[實用新型]一種用于解決硅片表面清洗過程劃傷和沾污的底座裝置有效
| 申請號: | 202023072823.5 | 申請日: | 2020-12-18 |
| 公開(公告)號: | CN213816083U | 公開(公告)日: | 2021-07-27 |
| 發明(設計)人: | 張帥;梁興勃;盧飛紅;荊濤;劉亮榮;陸宇凡;盧鋒;劉建剛 | 申請(專利權)人: | 浙江金瑞泓科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67 |
| 代理公司: | 上海泰能知識產權代理事務所(普通合伙) 31233 | 代理人: | 王亮;孫健 |
| 地址: | 315800 浙江*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 解決 硅片 表面 清洗 過程 劃傷 沾污 底座 裝置 | ||
1.一種用于解決硅片表面清洗過程劃傷和沾污的底座裝置,其特征在于:包括底座(1),所述的底座(1)呈長板狀結構,該底座(1)的上端面上沿著長度方向均勻開設有多個凹槽(2),所述的凹槽(2)的兩側分別貫穿底座(1)兩側的側壁,該凹槽(2)的底面為斜面(4),所述的斜面(4)上均勻布置有若干個孔洞(3),所述的孔洞(3)呈豎直布置且下端貫穿底座(1)的底面。
2.根據權利要求1所述的一種用于解決硅片表面清洗過程劃傷和沾污的底座裝置,其特征在于:所述的底座(1)采用PVDF材質制成。
3.根據權利要求1所述的一種用于解決硅片表面清洗過程劃傷和沾污的底座裝置,其特征在于:所述的底座(1)的底面為水平面,所述的斜面(4)與水平面之間的夾角為5度。
4.根據權利要求1所述的一種用于解決硅片表面清洗過程劃傷和沾污的底座裝置,其特征在于:每個斜面(4)上的孔洞(3)均呈矩形陣列排布。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





