[實用新型]CSP性能測試裝置

有效

• 申請號: 202022862272.6
• 申請日: 2020-12-03
• 公開（公告）號: CN213957633U
• 公開（公告）日: 2021-08-13
• 發明（設計）人: 王召燦;何玉建;吳明春
• 申請（專利權）人: 江西省晶能半導體有限公司
• 主分類號: G01S19/23
• 分類號: G01S19/23
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種CSP性能測試裝置，其特征在于，包括：固定于積分球表面、用于接收CSP出光的收光窗口，及可移動的設置于所述收光件上方、用于為CSP通電的探針，其中，

所述收光窗口中包括：

柱狀收光件，固定設置于所述積分球表面，所述柱狀收光件內部中空且上端面內部沿中心方向設置有一凸臺，凸臺下方內壁設置有螺孔；

透明支撐件，部分卡持于所述凸臺下方、部分位于凸臺外且與所述柱狀收光件的上表面高度齊平；

窗口板，置于所述透明支撐件下方，尺寸與透明支撐件下方的空間尺寸匹配；所述窗口板中包括一透光孔，且所述透光孔的面積較所述CSP出光側表面的面積小；

螺絲，內部中空且通過柱狀收光件內壁的螺孔將窗口板和支撐件固定卡持于凸臺下方。

2.如權利要求1所述的CSP性能測試裝置，其特征在于，所述窗口板由耐磨且不易變形的材料制備而成，且表面為黑色。

3.如權利要求1或2所述的CSP性能測試裝置，其特征在于，所述窗口板中透光孔的形狀與CSP出光側表面外形匹配，且單邊尺寸較CSP出光側表面相應邊收縮5％～10％。

4.如權利要求1或2所述的CSP性能測試裝置，其特征在于，在所述窗口板和支撐件中，平面度不超過0.002，上表面和下表面的平行度不超過0.003。

5.如權利要求1或2所述的CSP性能測試裝置，其特征在于，所述凸臺和柱狀收光件一體成型。