[實用新型]IC芯片檢測裝置的收料機構有效
| 申請號: | 202022841635.8 | 申請日: | 2020-11-30 |
| 公開(公告)號: | CN213967813U | 公開(公告)日: | 2021-08-17 |
| 發明(設計)人: | 劉世洪 | 申請(專利權)人: | 深圳市華力宇電子科技有限公司 |
| 主分類號: | B07C5/34 | 分類號: | B07C5/34;B07C5/38 |
| 代理公司: | 深圳市宏德雨知識產權代理事務所(普通合伙) 44526 | 代理人: | 李捷 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市寶安區航城街道*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | ic 芯片 檢測 裝置 機構 | ||
1.一種IC芯片檢測裝置的收料機構,其特征在于,包括:
機臺,包括頂部的頂板和側面的斜板,所述頂板與地面平行,頂板和所述斜板夾角為鈍角,斜板上設置有檢測站待料軌道,所述檢測站待料軌道用于檢測后的IC芯片的暫存;
分料組件,設置在所述斜板上,靠近所述檢測站待料軌道,用于將檢測完畢的IC芯片分類收料;
良品收納組件,設置在所述斜板上,靠近所述分料組件,用于接收檢測后的良品IC芯片;以及,
不良品收納組件,設置在所述斜板上,靠近所述分料組件,用于接收檢測后的不良品IC芯片。
2.根據權利要求1所述的IC芯片檢測裝置的收料機構,其特征在于,所述分料組件包括:
分料滑軌,設置在所述斜板上;
分料滑塊,可滑動的連接在所述分料滑軌上;
分料梭,設置在所述分料滑塊上,內部中空,用于運輸所述IC芯片;
分料電機,設置在所述斜板一端,位于所述分料滑軌一端,用于帶動所述分料梭移動;以及,
皮帶結構,連接所述分料電機和分料梭,用于帶動分料梭移動。
3.根據權利要求2所述的IC芯片檢測裝置的收料機構,其特征在于,所述良品收納組件包括:
良品導軌,設置在所述斜板上,所述良品導軌的軸線和所述檢測站待料軌道的軸線位于同一直線上,用于運輸IC芯片;
良品料管夾,兩個所述良品料管夾豎直設置在所述斜板上,靠近所述良品導軌,用于接收來自良品導軌的IC芯片,良品料管夾上設置有收料卡槽和收料通槽,所述收料卡槽設置在良品料管夾側面,收料通槽設置在良品料管夾下端,連通良品料管夾三個側壁,且連通收料卡槽,兩個收料卡槽相對設置;
良品料管,設置在兩個所述良品料管夾的收料卡槽內,用于收納檢測后的良品IC芯片;
良品盒,設置在所述斜板上,包括收納腔,所述收納腔沿斜板板面向下凹陷,用于收納裝好IC芯片的良品料管;以及,
推料位結構,設置在兩個所述良品料管夾之間,用于將收納滿IC芯片的良品料管從良品料管夾上推送到良品盒內。
4.根據權利要求3所述的IC芯片檢測裝置的收料機構,其特征在于,所述不良品收納組件包括:
收納座,設置在所述斜板上,包括限位凸起和導向槽,所述限位凸起和導向槽交錯結合,限位凸起用于限制IC芯片在導向槽內移動;以及,
不良品料管,連接在所述收納座下端,且連通所述導向槽,用于收納測試后的不良品IC芯片。
5.根據權利要求3所述的IC芯片檢測裝置的收料機構,其特征在于,遠離所述良品導軌一端的良品料管夾下端設置有可調式底座,所述可調式底座連接在所述斜板上,可調式底座上設置有長槽孔,可調式底座用于當料管長度不一致的調節兩個良品料管夾之間的距離。
6.根據權利要求3所述的IC芯片檢測裝置的收料機構,其特征在于,所述推料位結構包括:
推料滑軌,設置在所述良品料管夾之間;
推料滑板,可滑動的連接在所述推料滑軌上,用于將所述良品料管從良品料管夾內推送到良品盒內;以及,
光電感應器,設置在所述推料滑板上,用于感應良品料管內IC芯片是否裝滿。
7.根據權利要求2所述的IC芯片檢測裝置的收料機構,其特征在于,所述分料梭上設置有吸氣孔,所述吸氣孔用于將IC芯片吸住運輸。
8.根據權利要求4所述的IC芯片檢測裝置的收料機構,其特征在于,所述良品導軌和所述收納座并列設置在所述分料滑軌下端,所述良品導軌位于所述分料滑軌遠離分料電機一端,收納座位于分料導軌中部下方。
9.根據權利要求2所述的IC芯片檢測裝置的收料機構,其特征在于,所述斜板上對應所述分料電機位置設置有電機限位孔,分料電機連接在所述電機限位孔內,分料電機的軸線位于斜板內。
10.根據權利要求2所述的IC芯片檢測裝置的收料機構,其特征在于,所述斜板上設置有傳動孔,所述傳動孔位于所述分料滑軌兩端,所述皮帶結構穿過傳動孔連接分料梭和分料電機。
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