[實用新型]一種粉末衍射法測定晶體結構加工用研磨機構

有效

• 申請號: 202022597150.9
• 申請日: 2020-11-11
• 公開（公告）號: CN214234176U
• 公開（公告）日: 2021-09-21
• 發明（設計）人: 陳志龍
• 申請（專利權）人: 營口市雙龍射孔器材有限公司
• 主分類號: B02C2/10
• 分類號: B02C2/10
• 代理公司: 北京艾皮專利代理有限公司 11777
• 代理人: 馬小輝

本實用新型公開了一種粉末衍射法測定晶體結構加工用研磨機構，包括固定底板，所述固定底板的頂部通過支撐架固定連接有研磨箱，所述研磨箱的內腔固定連接有研磨座，所述研磨箱內腔的頂部固定連接有電推桿，所述電推桿的表面活動連接有電機固定架，所述電機固定架的內腔開設有與電推桿的表面滑動連接的滑動槽；該粉末衍射法測定晶體結構加工用研磨機構，當需要不同尺寸的顆粒時，通過啟動電推桿帶動抵觸塊上下運動，帶動電機固定架調節位置，調節研磨塊的高度以調節研磨塊和研磨座之間的間距，可以根據需求的尺寸快速的進行調節，操作簡單，使用方便，能適應多種顆粒大小的研磨需求，適用范圍廣，實用性更高。

技術領域

本實用新型具體涉及一種粉末衍射法測定晶體結構加工用研磨機構。

背景技術

在X射線衍射分析中，采用單色X射線和粉末狀多晶樣品進行衍射分析的一種方法，多晶試樣大多數情況是多晶粉末，也可以是多晶片或絲，衍射線條的位置、強度，可用德拜法、聚焦法或針孔法等照相記錄，粉末法主要用于物質鑒定、晶體點陣常數、多晶體的結構、晶粒大小、高聚物結晶度測定等。

在進行加工時需要將粉末研磨成口徑適合的顆粒后才能進行測定，在進行加工時，都是通過研磨機構對粉末進行研磨，現有的研磨機構進行研磨時，往往研磨口徑固定，只能研磨出一個口徑的粉末，不能根據實際使用需求自行調節，適用范圍小。

實用新型內容

本實用新型的目的在于針對現有技術的不足之處，提供一種粉末衍射法測定晶體結構加工用研磨機構，解決了研磨口徑固定，只能研磨出一個口徑的粉末，不能根據實際使用需求自行調節，適用范圍小的問題。

為解決上述技術問題，本實用新型提供的粉末衍射法測定晶體結構加工用研磨機構包括固定底板，所述固定底板的頂部通過支撐架固定連接有研磨箱，所述研磨箱的內腔固定連接有研磨座，所述研磨箱內腔的頂部固定連接有電推桿，所述電推桿的表面活動連接有電機固定架，所述電機固定架的內腔開設有與電推桿的表面滑動連接的滑動槽，所述電推桿活塞桿的底端固定連接有與電機固定架的表面相互抵觸的抵觸塊，所述電機固定架的內腔固定連接有驅動電機，所述驅動電機輸出軸的底端通過聯軸器固定連接有驅動軸，所述驅動軸的底端貫穿電機固定架的頂部并延伸質電機固定架的下方，所述驅動軸的底端固定連接有研磨塊。

優選的，所述研磨塊為上小下大的圓臺狀。

優選的，所述研磨座的內徑從上到下逐漸變大，且內腔角度與研磨塊的表面角度平行。

優選的，所述研磨箱的頂部開設有進料口，所述研磨箱的內腔開設有引流斜面。

優選的，所述研磨箱的內腔通過活動槽活動連接有過濾板。

優選的，所述過濾板的一側貫穿研磨箱的內腔并延伸至研磨箱的表面，所述過濾板的表面固定連接有拉手。

優選的，所述固定底板的頂部固定連接有接料箱。

與相關技術相比較，本實用新型提供的粉末衍射法測定晶體結構加工用研磨機構有如下有益效果：

(1)本實用新型提供一種粉末衍射法測定晶體結構加工用研磨機構，固定底板的頂部通過支撐架固定連接有研磨箱，研磨箱的內腔固定連接有研磨座，研磨箱內腔的頂部固定連接有電推桿，電推桿的表面活動連接有電機固定架，電機固定架的內腔開設有與電推桿的表面滑動連接的滑動槽，電推桿活塞桿的底端固定連接有與電機固定架的表面相互抵觸的抵觸塊，電機固定架的內腔固定連接有驅動電機，驅動電機輸出軸的底端通過聯軸器固定連接有驅動軸，驅動軸的底端貫穿電機固定架的頂部并延伸質電機固定架的下方，驅動軸的底端固定連接有研磨塊，當需要不同尺寸的顆粒時，通過啟動電推桿帶動抵觸塊上下運動，帶動電機固定架調節位置，調節研磨塊的高度以調節研磨塊和研磨座之間的間距，可以根據需求的尺寸快速的進行調節，操作簡單，使用方便，能適應多種顆粒大小的研磨需求，適用范圍廣。