[實用新型]推力光學檢測裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202022586710.0
• 申請日: 2020-11-10
• 公開（公告）號: CN214320946U
• 公開（公告）日: 2021-10-01
• 發(fā)明（設計）人: 劉日傳;沈新明;楊俊
• 申請（專利權）人: 蘇州領裕電子科技有限公司
• 主分類號: B07C5/34
• 分類號: B07C5/34;B07C5/342;B07C5/36
• 代理公司: 北京商專潤文專利代理事務所(普通合伙) 11317
• 代理人: 陳平

1.推力光學檢測裝置，其特征在于，包括推力機構(1)、視覺檢測機構(2)、排廢機構(3)與頂切機構(4)；

所述推力機構(1)能夠對工件進行推力測試；

所述視覺檢測機構(2)對推力測試后的工件進行變形檢測；

所述排廢機構(3)與頂切機構(4)能夠配合的對變形的工件進行切斷并移除。

2.根據(jù)權利要求1所述推力光學檢測裝置，其特征在于，所述推力機構(1)包括推力電缸(11)與壓塊(12)，所述推力電缸(11)能夠驅動所述壓塊(12)與工件相抵，從而進行推力測試。

3.根據(jù)權利要求1所述推力光學檢測裝置，其特征在于，所述視覺檢測機構(2)包括檢測治具(23)與光源(22)，所述檢測治具(23)設有檢測光道(230)，所述檢測光道(230)的下方設有攝像機(21)。

4.根據(jù)權利要求3所述推力光學檢測裝置，其特征在于，所述檢測治具(23)包括上治具(231)與下治具(232)，所述上治具(231)與所述下治具(232)均設有組成所述檢測光道(230)的通孔，所述檢測光道(230)設有限位塊(230a)。

5.根據(jù)權利要求3所述推力光學檢測裝置，其特征在于，所述視覺檢測機構(2)還包括光源(22)，所述光源(22)設于所述檢測治具(23)的一側。

6.根據(jù)權利要求1所述推力光學檢測裝置，其特征在于，所述排廢機構(3)包括真空吸附治具(31)，所述真空吸附治具(31)與升降組件(33)驅動，所述升降組件(33)與平移組件(32)驅動連接。

7.根據(jù)權利要求1所述推力光學檢測裝置，其特征在于，所述頂切機構(4)包括頂針(42)、頂切動力部(41)與頂切平臺(43)；

所述頂針(42)與所述頂切動力部(41)驅動連接，所述頂針(42)能夠自由穿過所述頂切平臺(43)。

8.根據(jù)權利要求1所述推力光學檢測裝置，其特征在于，還包括拉料機構(5)，所述拉料機構(5)設有拉料輥組(51)，所述拉料機構(5)能夠驅動工件進給。