[實用新型]一種傳感器芯片標(biāo)定測試調(diào)度裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202022548512.5
• 申請日: 2020-11-06
• 公開（公告）號: CN214173417U
• 公開（公告）日: 2021-09-10
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張遼;范兆周;李飛
• 申請（專利權(quán)）人: 北京清大天達(dá)光電科技股份有限公司
• 主分類號: G01D18/00
• 分類號: G01D18/00
• 代理公司: 北京知呱呱知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11577
• 代理人: 孫志一

1.一種傳感器芯片標(biāo)定測試調(diào)度裝置，用于調(diào)度傳感器標(biāo)定線上多個傳感器的芯片載板在N個芯片測試區(qū)同時進(jìn)行標(biāo)定測試，所述傳感器標(biāo)定線包括順序連接的N-1個溫區(qū)和1個復(fù)測區(qū)、一條貫穿整線的傳輸機(jī)構(gòu)，所述N-1個溫區(qū)為低溫區(qū)、常溫區(qū)、高溫區(qū)，每個溫區(qū)包括一個預(yù)溫箱、一個測試箱、一個緩沖箱、一個過渡箱，所述高溫區(qū)不包含過渡箱；所述復(fù)測區(qū)包括一個降溫箱、一個寫入箱、一個復(fù)測箱；所述傳輸機(jī)構(gòu)用于將進(jìn)行標(biāo)定測試的各芯片載板依次轉(zhuǎn)移到各溫區(qū)的預(yù)溫箱、測試箱、緩沖箱、過渡箱、復(fù)測區(qū)的降溫箱、寫入箱和復(fù)測箱，其中N為大于等于2、小于等于4的整數(shù)，其特征在于，所述裝置包括：

裝載單元(1)，四個測試溫區(qū)(2-1)、(2-2)、(2-3)、(2-4)，傳輸機(jī)構(gòu)(3)，卸載單元(4)；其中，第一測試溫區(qū)(2-1)包括低溫預(yù)溫箱、低溫測試箱、低溫緩沖箱、低溫過渡箱；第二測試溫區(qū)(2-2)包括常溫預(yù)溫箱、常溫測試箱、常溫緩沖箱、常溫過渡箱；第三測試溫區(qū)(2-3)包括高溫預(yù)溫箱、高溫測試箱、高溫緩沖箱；第四測試溫區(qū)(2-4)包括降溫箱、寫入箱、復(fù)測箱。

2.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述芯片載板為容納64片5mm×5mm的芯片，材質(zhì)為PCB，芯片間距為10mm。

3.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，芯片載板從低溫區(qū)過渡箱進(jìn)入常溫區(qū)預(yù)溫箱時、從常溫區(qū)過渡箱進(jìn)入高溫區(qū)預(yù)溫箱時、從復(fù)測區(qū)寫入箱進(jìn)入復(fù)測箱時均存在準(zhǔn)入溫度閾值條件。