[實用新型]一種適用于150um金帶焊接的芯片電容器有效
| 申請號: | 202022483318.3 | 申請日: | 2020-10-30 |
| 公開(公告)號: | CN213877830U | 公開(公告)日: | 2021-08-03 |
| 發明(設計)人: | 曹志學;李冠軍;范壯壯;鞠臘梅;張紅旗;孫明;張延偉 | 申請(專利權)人: | 成都宏科電子科技有限公司 |
| 主分類號: | H01G4/12 | 分類號: | H01G4/12;H01G4/005;H01G4/008 |
| 代理公司: | 成都睿道專利代理事務所(普通合伙) 51217 | 代理人: | 陶紅 |
| 地址: | 610100 四川省成都市*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 適用于 150 um 焊接 芯片 電容器 | ||
1.一種適用于150um金帶焊接的芯片電容器,其特征在于:包括
陶瓷介質,所述陶瓷介質的表面設有活化層;
電極層,所述電極層包括端電極層、阻擋電極層和粘接電極層。
2.如權利要求1所述的適用于150um金帶焊接的芯片電容器,其特征在于,所述活化層包括高溫加熱層和射頻等離子清洗層。
3.如權利要求2所述的適用于150um金帶焊接的芯片電容器,其特征在于,所述端電極層的厚度≥4.0μm,端電極層材料為純金且純度≥99.99%;所述阻擋電極層的厚度為0.5~1.0μm,阻擋電極層材料為鉑且鉑純度≥99.99%;所述粘接電極層的厚度為0.05~0.20μm,粘接電極層材料為鈦鎢且鈦鎢合金純度≥99.99%。
4.如權利要求1-3中任意一項所述的適用于150um金帶焊接的芯片電容器,其特征在于,所述電極層包括上電極層和下電極層,所述上電極層設置于所述陶瓷介質的上表面,所述下電極層設置于所述陶瓷介質的下表面,所述上電極層和下電極層都由端電極層、阻擋電極層和粘接電極層組成,所述上電極層上設有若干環狀凸起,所述下電極設有若干環狀凹陷,所述環狀凸起和環狀凹陷一一對應設置。
5.如權利要求4所述的適用于150um金帶焊接的芯片電容器,其特征在于,所述環狀凸起和所述環狀凹陷的橫街面都呈弧形設置,且兩者橫截面弧形一致。
6.如權利要求5所述的適用于150um金帶焊接的芯片電容器,其特征在于,還設有傘裙,所述傘裙設置于所述上電極層和下電極層的環側,所述傘裙為若干缺口。
7.如權利要求6所述的適用于150um金帶焊接的芯片電容器,其特征在于,所述傘裙包括若干環狀缺口,所述環狀缺口的邊緣設有圓角。
8.如權利要求6所述的適用于150um金帶焊接的芯片電容器,其特征在于,所述傘裙包括若干多邊形缺口,所述多邊形缺口的邊緣設有圓角。
9.如權利要求3所述的適用于150um金帶焊接的芯片電容器,其特征在于,還設有內電極層,所述內電極層設置于所述陶瓷介質內。
10.如權利要求9所述的適用于150um金帶焊接的芯片電容器,其特征在于,所述電極層上設有豁口,所述豁口設置于所述內電極層的豎直上方,所述豁口貫穿所述電極層。
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