[實用新型]一種小管腳間距半導體器件裸芯片老化測試插座

有效

• 申請號: 202022270722.2
• 申請日: 2020-10-13
• 公開（公告）號: CN213364954U
• 公開（公告）日: 2021-06-04
• 發明（設計）人: 許傳慶;許元君
• 申請（專利權）人: 蘇州锜慶精密電子有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01R31/28;G01R1/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型公開了一種小管腳間距半導體器件裸芯片老化測試插座，包括座體，所述座體下端固定安裝有多個固定塊，且每個固定塊上均設有伸縮槽，每個所述伸縮槽內均滑動連接有伸縮塊，且每個伸縮塊與對應的伸縮槽之間均安裝有彈簧，每個所述伸縮塊下端均固定安裝有放置板，所述座體內設有容納槽，且容納槽內放置有控制板，所述控制板下端均勻設有多個凹槽，且每個凹槽內均滾動安裝有滾珠，所述控制板與每個伸縮塊之間均安裝有調節機構。優點在于：本實用新型測試插座在平整度不一的放置面，可自動進行調節，保持水平狀態，從而確保測試結果的準確度，且該操作無需人工操作，使用方便。

技術領域

本實用新型涉及半導體器件裸芯片老化測試技術領域，尤其涉及一種小管腳間距半導體器件裸芯片老化測試插座。

背景技術

半導體器件是由硅、鍺或砷化鎵為材料制成的一種電氣元件，其導電性介于良導電體與絕緣體之間，可用來產生、控制、接收、變換、放大信號和進行能量轉換，小管腳間距半導體器件裸芯片，即為相鄰輸入輸出管腳引線間的距離小于0.40毫米，且未進行封裝的單個半導體器件硅晶片。

為確保由其組成的芯片組件的可靠性，因此需使用老化測試插座對小管腳間距半導體器件裸芯片進行高低溫老化測試，現有的老化測試插座未設有平衡裝置，因此當放置面傾斜時，其也會隨之傾斜，從而可能會對測試結果產生一定不利影響。

實用新型內容

本實用新型的目的是為了解決現有技術中存在的問題，而提出的一種小管腳間距半導體器件裸芯片老化測試插座。

為了實現上述目的，本實用新型采用了如下技術方案：

一種小管腳間距半導體器件裸芯片老化測試插座，包括座體，所述座體下端固定安裝有多個固定塊，且每個固定塊上均設有伸縮槽，每個所述伸縮槽內均滑動連接有伸縮塊，且每個伸縮塊與對應的伸縮槽之間均安裝有彈簧，每個所述伸縮塊下端均固定安裝有放置板，所述座體內設有容納槽，且容納槽內放置有控制板，所述控制板下端均勻設有多個凹槽，且每個凹槽內均滾動安裝有滾珠，所述控制板與每個伸縮塊之間均安裝有調節機構。

在上述的一種小管腳間距半導體器件裸芯片老化測試插座中，所述調節機構包括連接塊，所述連接塊固定安裝在控制板的側壁上，且連接塊上固定連接有拉繩，所述容納槽的側壁上設有安裝槽，且安裝槽與伸縮槽互通，所述拉繩的另一端穿過安裝槽與伸縮塊固定連接，所述安裝槽內通過轉桿轉動連接有與拉繩相配合的收卷導向輪，且收卷導向輪與安裝槽之間安裝有扭力彈簧。

在上述的一種小管腳間距半導體器件裸芯片老化測試插座中，所述放置板下端固定安裝有橡膠墊，且橡膠墊下端固定安裝有多個凸塊，每個所述凸塊表面均為粗糙設置。

在上述的一種小管腳間距半導體器件裸芯片老化測試插座中，所述容納槽與控制板均為圓柱體，且容納槽的尺寸大于控制板的尺寸。

在上述的一種小管腳間距半導體器件裸芯片老化測試插座中，所述伸縮塊上固定安裝有兩個定位塊，所述伸縮槽的側壁上對稱設有兩個定位槽，且兩個定位槽分別與兩個定位塊相配合。

與現有的技術相比，本實用新型優點在于：

1：固定塊與放置板的配合，可將座體下端與放置面進行分隔，避免因放置面潮濕導致座體受潮致其內部元件損壞等問題。

2：定位塊與定位槽的配合，可提高伸縮塊與伸縮槽之間的摩擦力，配合上彈簧的彈力作用，可對座體起到減震作用，確保測試操作順利進行。

3：多個調節機構的配合，可在座體因放置面不平整發生傾斜時，自動對相應放置板相對座體的間距進行調節，使得座體保持水平狀態，確保測試結果的準確度，且該操作無需人工操作，使用方便。

綜上所述，本實用新型測試插座在平整度不一的放置面，可自動進行調節，保持水平狀態，從而確保測試結果的準確度，且該操作無需人工操作，使用方便。

附圖說明