[實用新型]一種小管腳間距半導體器件裸芯片老化測試插座

有效

• 申請號: 202022270722.2
• 申請日: 2020-10-13
• 公開（公告）號: CN213364954U
• 公開（公告）日: 2021-06-04
• 發明（設計）人: 許傳慶;許元君
• 申請（專利權）人: 蘇州锜慶精密電子有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01R31/28;G01R1/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種小管腳間距半導體器件裸芯片老化測試插座，包括座體（1），其特征在于，所述座體（1）下端固定安裝有多個固定塊（2），且每個固定塊（2）上均設有伸縮槽（3），每個所述伸縮槽（3）內均滑動連接有伸縮塊（4），且每個伸縮塊（4）與對應的伸縮槽（3）之間均安裝有彈簧（5），每個所述伸縮塊（4）下端均固定安裝有放置板（6），所述座體（1）內設有容納槽（7），且容納槽（7）內放置有控制板（8），所述控制板（8）下端均勻設有多個凹槽（9），且每個凹槽（9）內均滾動安裝有滾珠（10），所述控制板（8）與每個伸縮塊（4）之間均安裝有調節機構。

2.根據權利要求1所述的一種小管腳間距半導體器件裸芯片老化測試插座，其特征在于，所述調節機構包括連接塊（11），所述連接塊（11）固定安裝在控制板（8）的側壁上，且連接塊（11）上固定連接有拉繩（16），所述容納槽（7）的側壁上設有安裝槽（12），且安裝槽（12）與伸縮槽（3）互通，所述拉繩（16）的另一端穿過安裝槽（12）與伸縮塊（4）固定連接，所述安裝槽（12）內通過轉桿（13）轉動連接有與拉繩（16）相配合的收卷導向輪（14），且收卷導向輪（14）與安裝槽（12）之間安裝有扭力彈簧（15）。

3.根據權利要求1所述的一種小管腳間距半導體器件裸芯片老化測試插座，其特征在于，所述放置板（6）下端固定安裝有橡膠墊（17），且橡膠墊（17）下端固定安裝有多個凸塊（18），每個所述凸塊（18）表面均為粗糙設置。

4.根據權利要求1所述的一種小管腳間距半導體器件裸芯片老化測試插座，其特征在于，所述容納槽（7）與控制板（8）均為圓柱體，且容納槽（7）的尺寸大于控制板（8）的尺寸。

5.根據權利要求1所述的一種小管腳間距半導體器件裸芯片老化測試插座，其特征在于，所述伸縮塊（4）上固定安裝有兩個定位塊，所述伸縮槽（3）的側壁上對稱設有兩個定位槽，且兩個定位槽分別與兩個定位塊相配合。