[實用新型]一種新型半導體可靠性測試探針

有效

• 申請號: 202022147538.9
• 申請日: 2020-09-27
• 公開（公告）號: CN213689714U
• 公開（公告）日: 2021-07-13
• 發明（設計）人: 王睿
• 申請（專利權）人: 深圳新驅動力科技有限公司
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067;G01R31/26
• 代理公司: 北京成實知識產權代理有限公司 11724
• 代理人: 陳永虔

本實用新型公開了一種新型半導體可靠性測試探針，屬于半導體檢測技術領域，包括頂板，所述頂板底部表面安裝有套管，所述套管內壁表面開設有內螺紋，所述套管底部表面設有限位管，所述限位管外壁表面頂部開設有外螺紋，所述限位管右側壁開設有通孔，所述限位管內腔插接有測試探針主體，所述測試探針主體右側壁頂部開設有卡槽，所述限位管內腔頂部設有塞塊。本實用新型通過套管和限位管相互配合，既能對限位管安裝作用，又能方便限位管后期的拆卸維護，并且彈簧，可緩沖測試探針主體在對半導體測試的壓力，同時限位螺栓，可起到對測試探針主體限位的作用，使得測試探針主體在一定的范圍內上下伸縮，提高了測試探針主體的使用安全。

技術領域

本實用新型涉及半導體檢測技術領域，尤其涉及一種新型半導體可靠性測試探針。

背景技術

精密測試探針英文名Testprobe，是精密電測試過程中必不可少的部件。在電子電路研發和生產的過程中，經常需要對信號的通斷以及質量進行測試分析，這個時候就需要使用精密測試探針將信號無損的接取出來提供給相應的ICT或者測試系統進行整合分析。測試探針質量的好壞，很大程度影響了測試的準確性以及可重復性。按照測試探針的應用領域來區分，測試探針又分為常規ICT探針、半導體測試探針、RF高頻測試探針、大電流探針、電池接觸探針。

現有的半導體可靠性測試探針在使用，既不能方便工作人員對其進行拆卸更換，自身又不具有緩沖功能，進而使得半導體可靠性測試探針在使用時壓力過大而造成半導體損壞，降低了半導體測試安全。為此，我們提出一種新型半導體可靠性測試探針。

實用新型內容

本實用新型提供一種新型半導體可靠性測試探針，通過套管和限位管相互配合，既能對限位管安裝作用，又能方便限位管后期的拆卸維護，并且彈簧可在固定塊的連接下使得測試探針主體靈活在伸縮，以便于能夠緩沖測試探針主體在對半導體測試的壓力，同時限位螺栓，可起到對測試探針主體限位的作用，使得測試探針主體在一定的范圍內上下伸縮，提高了測試探針主體的使用安全。

本實用新型提供的具體技術方案如下：

本實用新型提供的一種新型半導體可靠性測試探針，包括頂板，所述頂板底部表面安裝有套管，所述套管內壁表面開設有內螺紋，所述套管底部表面設有限位管，所述限位管外壁表面頂部開設有外螺紋，所述限位管右側壁開設有通孔，所述限位管內腔插接有測試探針主體，所述測試探針主體右側壁頂部開設有卡槽，所述限位管內腔頂部設有塞塊，所述塞塊底部安裝有彈簧，所述彈簧底部表面安裝有固定塊，所述限位管外側壁安裝有螺帽，且螺帽設置于通孔一端，所述螺帽表面轉連接有限位螺栓。

可選的，所述頂板表面環設有安裝孔，且安裝孔具體設有若干組。

可選的，所述限位管經外螺紋和內螺紋與套管轉動相連。

可選的，所述固定塊底部表面與測試探針主體頂端相連。

可選的，所述限位螺栓貫穿通孔與測試探針主體上的卡槽相連。

可選的，所述測試探針主體表面安裝有加強圈，且加強圈具體設有兩組。

本實用新型的有益效果如下：

1、本實用新型通過螺釘可經安裝孔將頂板安裝在指定位置，通過在頂板底部表面安裝有套管，從而能夠使得頂板可對套管安裝固定，通過轉動限位管，可經外螺紋和內螺紋安裝在套管上，既能對限位管安裝作用，又能方便限位管后期的拆卸維護，并且限位管，可對測試探針主體安裝，通過塞塊，可對彈簧提供支撐，進而能夠使得彈簧在固定塊的連接下使得測試探針主體靈活在伸縮，以便于能夠緩沖測試探針主體在對半導體測試的壓力，提高了半導體測試的安全。