[實用新型]一種新型半導體可靠性測試探針

有效

• 申請號: 202022147538.9
• 申請日: 2020-09-27
• 公開（公告）號: CN213689714U
• 公開（公告）日: 2021-07-13
• 發明（設計）人: 王睿
• 申請（專利權）人: 深圳新驅動力科技有限公司
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067;G01R31/26
• 代理公司: 北京成實知識產權代理有限公司 11724
• 代理人: 陳永虔

1.一種新型半導體可靠性測試探針，包括頂板(1)，其特征在于：所述頂板(1)底部表面安裝有套管(2)，所述套管(2)內壁表面開設有內螺紋(201)，所述套管(2)底部表面設有限位管(3)，所述限位管(3)外壁表面頂部開設有外螺紋，所述限位管(3)右側壁開設有通孔(301)，所述限位管(3)內腔插接有測試探針主體(4)，所述測試探針主體(4)右側壁頂部開設有卡槽(401)，所述限位管(3)內腔頂部設有塞塊(5)，所述塞塊(5)底部安裝有彈簧(6)，所述彈簧(6)底部表面安裝有固定塊(7)，所述限位管(3)外側壁安裝有螺帽(8)，且螺帽(8)設置于通孔(301)一端，所述螺帽(8)表面轉動連接有限位螺栓(9)。

2.根據權利要求1所述的一種新型半導體可靠性測試探針，其特征在于：所述頂板(1)表面環設有安裝孔(101)，且安裝孔(101)具體設有若干組。

3.根據權利要求1所述的一種新型半導體可靠性測試探針，其特征在于：所述限位管(3)經外螺紋和內螺紋(201)與套管(2)轉動相連。

4.根據權利要求1所述的一種新型半導體可靠性測試探針，其特征在于：所述固定塊(7)底部表面與測試探針主體(4)頂端相連。

5.根據權利要求1所述的一種新型半導體可靠性測試探針，其特征在于：所述限位螺栓(9)貫穿通孔(301)與測試探針主體(4)上的卡槽(401)相連。

6.根據權利要求1所述的一種新型半導體可靠性測試探針，其特征在于：所述測試探針主體(4)表面安裝有加強圈(10)，且加強圈(10)具體設有兩組。