[實(shí)用新型]BEMF檢測電路及高速無刷電機(jī)驅(qū)動(dòng)電路

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202022041913.1
• 申請(qǐng)日: 2020-09-17
• 公開（公告）號(hào): CN213027860U
• 公開（公告）日: 2021-04-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 付智宇
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 永康市潔力軟件開發(fā)工作室
• 主分類號(hào): H02P6/12
• 分類號(hào): H02P6/12;H02P6/182;H02P6/20
• 代理公司: 重慶華科專利事務(wù)所 50123
• 代理人: 譚小琴

1.一種BEMF檢測電路，其特征在于：包括CPU、鉗位二極管D1、鉗位二極管D2、鉗位二極管D3以及第一電阻組件至第六電阻組件；

所述CPU具有端口ADC_A、端口ADC_B、端口ADC_C、端口IO_A、端口IO_B和端口IO_C；在電機(jī)啟動(dòng)時(shí)，所述端口IO_A、端口IO_B和端口IO_C設(shè)置為輸入狀態(tài)；在電機(jī)啟動(dòng)完成且轉(zhuǎn)速達(dá)到一定轉(zhuǎn)速時(shí)，所述端口IO_A、端口IO_B和端口IO_C設(shè)置為輸出狀態(tài)，并輸出低電平；

所述CPU的端口ADC_A經(jīng)第一電阻組件與電機(jī)的相位A連接；

所述CPU的端口ADC_B經(jīng)第三電阻組件與電機(jī)的相位B連接；

所述CPU的端口ADC_C經(jīng)第五電阻組件與電機(jī)的相位C連接；

所述CPU的端口IO_A經(jīng)第二電阻組件與鉗位二極管D1的正極連接，且鉗位二極管D1的正極還與第一電阻組件與端口ADC_A的連接點(diǎn)連接，鉗位二極管D1的負(fù)極接VCC；

所述CPU的端口IO_B經(jīng)第四電阻組件與鉗位二極管D2的正極連接，且鉗位二極管D2的正極還與第三電阻組件與端口ADC_B的連接點(diǎn)連接，鉗位二極管D2的負(fù)極接VCC；

所述CPU的端口IO_C經(jīng)第六電阻組件與鉗位二極管D3的正極連接，且鉗位二極管D3的正極還與第五電阻組件與端口ADC_C的連接點(diǎn)連接，鉗位二極管D3的負(fù)極接VCC。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的BEMF檢測電路，其特征在于：還包括濾波電容C1、濾波電容C2和濾波電容C3；

所述濾波電容C1與第二電阻組件并聯(lián)；

所述濾波電容C2與第四電阻組件并聯(lián)；

所述濾波電容C3與第六電阻組件并聯(lián)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的BEMF檢測電路，其特征在于：所述第一電阻組件為電阻R1；所述第二電阻組件為電阻R2；所述第三電阻組件為電阻R3；所述第四電阻組件為電阻R4；所述第五電阻組件為電阻R5；所述第六電阻組件為電阻R6。

4.一種BEMF檢測電路，其特征在于：包括CPU、鉗位二極管D1、鉗位二極管D2、鉗位二極管D3、第一電阻組件至第六電阻組件以及二極管D4至二極管D6；

所述CPU具有端口ADC_A、端口ADC_B、端口ADC_C和端口IO；在電機(jī)啟動(dòng)時(shí)，所述端口IO設(shè)置為輸入狀態(tài)；在電機(jī)啟動(dòng)完成且轉(zhuǎn)速達(dá)到一定轉(zhuǎn)速時(shí)，所述端口IO設(shè)置為輸出狀態(tài)，并輸出低電平；

所述CPU的端口ADC_A經(jīng)第一電阻組件與電機(jī)的相位A連接；

所述CPU的端口ADC_B經(jīng)第三電阻組件與電機(jī)的相位B連接；

所述CPU的端口ADC_C經(jīng)第五電阻組件與電機(jī)的相位C連接；

所述二極管D4、二極管D5和二極管D6的負(fù)極均接CPU的端口IO；

所述二極管D4的正極經(jīng)第二電阻組件與鉗位二極管D1的正極連接，且鉗位二極管D1的正極還與第一電阻組件與端口ADC_A的連接點(diǎn)連接，鉗位二極管D1的負(fù)極接VCC；

所述二極管D5的正極經(jīng)第四電阻組件與鉗位二極管D2的正極連接，且鉗位二極管D2的正極還與第三電阻組件與端口ADC_B的連接點(diǎn)連接，鉗位二極管D2的負(fù)極接VCC；

所述二極管D6的正極經(jīng)第六電阻組件與鉗位二極管D3的正極連接，且鉗位二極管D3的正極還與第五電阻組件與端口ADC_C的連接點(diǎn)連接，鉗位二極管D3的負(fù)極接VCC。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的BEMF檢測電路，其特征在于：還包括濾波電容C1、濾波電容C2和濾波電容C3；

所述濾波電容C1與第二電阻組件并聯(lián)；

所述濾波電容C2與第四電阻組件并聯(lián)；

所述濾波電容C3與第六電阻組件并聯(lián)。

6.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的BEMF檢測電路，其特征在于：所述第一電阻組件為電阻R1；所述第二電阻組件為電阻R2；所述第三電阻組件為電阻R3；所述第四電阻組件為電阻R4；所述第五電阻組件為電阻R5；所述第六電阻組件為電阻R6。