[實用新型]一種浮動式IC測試座

有效

• 申請號: 202021755761.5
• 申請日: 2020-08-20
• 公開（公告）號: CN212905029U
• 公開（公告）日: 2021-04-06
• 發明（設計）人: 曹夢堂;王華偉
• 申請（專利權）人: 浙江邦睿達科技有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/28
• 代理公司: 北京中政聯科專利代理事務所(普通合伙) 11489
• 代理人: 燕宏偉;章洪

1.一種浮動式IC測試座，其特征在于：所述浮動式IC測試座包括浮動板、第一連接板、第二連接板以及保護板，所述浮動板設有用于放置待測芯片的限位腔體，所述浮動板設有與所述待測芯片的錫球相對應且位于所述限位腔體內的若干個第一貫穿孔；所述第一連接板設有用于放置所述浮動板的第一凹槽，所述浮動板通過第一固定件與所述第一連接板固定連接，所述第一連接板設有與若干個所述第一貫穿孔相對應且位于所述第一凹槽內的若干個第二貫穿孔，每個所述第二貫穿孔中設有測試器，所述第一連接板設有位于所述第一凹槽內的多個沉孔且每個所述沉孔內設有壓縮彈簧；所述第二連接板設有與若干個所述第二貫穿孔相對應的若干個第三貫穿孔，所述第一連接板通過第二固定件依次穿過所述第二連接板和所述保護板與所述保護板固定連接，若干個所述第三貫穿孔形成一個區域，所述保護板設有與所述區域相對應的通孔且所述通孔面積大于或等于所述區域；所述測試器朝向所述浮動板一端與所述待測芯片的錫球接觸且另一端穿出所述第三貫穿孔于所述通孔內，當所述浮動式IC測試座受到測試蓋下壓時，所述測試器靠近所述保護板一端與測試電路板接觸。

2.如權利要求1所述的浮動式IC測試座，其特征在于：所述測試器與所述第二貫穿孔為可拆卸連接。

3.如權利要求2所述的浮動式IC測試座，其特征在于：所述測試器為彈簧測試針或導電膠。

4.如權利要求3所述的浮動式IC測試座，其特征在于：所述彈簧測試針朝向所述待測芯片一端呈“爪”狀。

5.如權利要求3或4所述的浮動式IC測試座，其特征在于：所述浮動板設有兩對分別與所述限位腔體相通的第二凹槽，用于拿取所述待測芯片。

6.如權利要求5所述的浮動式IC測試座，其特征在于：所述浮動板設有多個與所述第一固定件相配合且相對應的第三凹槽，所述浮動板通過所述第一固定件卡接所述第三凹槽與所述第一連接板固定連接。

7.如權利要求6所述的浮動式IC測試座，其特征在于：所述第二連接板設有多個與所述第二固定件且相對應的定位孔，所述第二連接板還設有位于所述定位孔內且與所述第二固定件相配合的定位銷，第一連接板通過所述第二固定件依次穿過所述定位銷以及所述保護板與所述保護板固定連接。

8.如權利要求7所述的浮動式IC測試座，其特征在于：所述浮動板的材質為防靜電塑料或者氧化處理的鋁合金；所述第一連接板的材質為防靜電塑料或者氧化處理的鋁合金。