[實用新型]一種來返檢測的芯片測試架

有效

• 申請號: 202021196709.0
• 申請日: 2020-06-24
• 公開（公告）號: CN213033042U
• 公開（公告）日: 2021-04-23
• 發明（設計）人: 余江湖
• 申請（專利權）人: 深圳市欣同達科技有限公司
• 主分類號: B07C5/344
• 分類號: B07C5/344;B07C5/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種來返檢測的芯片測試架，包括殼體(1),其特征在于，所述殼體(1)頂部設有放置座(2)，所述殼體(1)頂部的中部設有充電開關(4)，所述殼體(1)頂部的底部設有功能按鍵(5)和音量鍵(3)，所述殼體(1)頂部的一端設有開關(6)，所述殼體(1)頂部一端設有顯示表(7)，所述殼體(1)一側的中部設有電源接口(8)，所述殼體(1)一側的一端設有揚聲孔(13)。

2.根據權利要求1所述的一種來返檢測的芯片測試架，其特征在于，所述放置座(2)中部設有凹槽(12)，且放置座(2)一端活動連接有壓蓋(11)。

3.根據權利要求2所述的一種來返檢測的芯片測試架，其特征在于，所述壓蓋(11)頂部設有卡扣(9)，所述壓蓋(11)的中部設有壓縮塊(10)。

4.根據權利要求1所述的一種來返檢測的芯片測試架，其特征在于，所述電源接口(8)共設有兩個，且兩個所述電源接口(8)分別為正極和負極。

5.根據權利要求2所述的一種來返檢測的芯片測試架，其特征在于，所述凹槽(12)內的封裝尺寸為20*20mm，且球數在300pin內。