[實用新型]一種用于IC芯片的測試裝置

有效

• 申請號: 202021092159.8
• 申請日: 2020-06-14
• 公開（公告）號: CN212722968U
• 公開（公告）日: 2021-03-16
• 發明（設計）人: 馬中原;袁東衛;張宏
• 申請（專利權）人: 深圳市佰泰盛世科技有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型公開了一種用于IC芯片的測試裝置，包括測試儀主體，所述測試儀主體的上表面固定安裝有上蓋殼，所述測試儀主體的前表面設置有測試槽，所述測試槽的表面活動安裝有固定桿，所述測試儀主體的前表面位于測試槽的一側設置有操作按鍵，所述測試槽的表面活動安裝有計數機構。本實用新型所述的一種用于IC芯片的測試裝置，能夠省去人工點數的繁瑣，有利于統計IC芯片的測試量和考核工作人員工作量，還能夠調節測試儀主體與工作臺面的高度，適應不同身高的操作人員進行測試，緩解操作人員長時間低頭測試而頸部酸痛的問題，且測試儀主體升高后會空出其下部的工作臺面以供放置IC芯片，從而達到有效利用工作臺面的作用。

技術領域

本實用新型涉及測試裝置領域，特別涉及一種用于IC芯片的測試裝置。

背景技術

IC芯片是將大量的微電子元器件(晶體管、電阻、電容等)形成的集成電路放在一塊塑基上，做成一塊芯片，IC芯片包含晶圓芯片和封裝芯片，相應IC芯片生產線由晶圓生產線和封裝生產線兩部分組成，IC芯片一般使用IC芯片測試儀進行測試；然而，IC芯片的測試裝置在使用時具有一定弊端，在IC芯片測試時需操作人員人工點數，經常有錯點、漏點的問題，還有，在工廠大批量測試時，工作臺面不夠擺放，而IC芯片測試儀其下部區域不能夠充分利用，且操作人員因IC測試儀不能調高而需長時間低頭，對頸部健康造成不利影響。

實用新型內容

本實用新型的主要目的在于提供一種用于IC芯片的測試裝置，可以有效解決背景技術中的問題。

為實現上述目的，本實用新型采取的技術方案為：

一種用于IC芯片的測試裝置，包括測試儀主體，所述測試儀主體的上表面固定安裝有上蓋殼，所述測試儀主體的前表面設置有測試槽，所述測試槽的表面活動安裝有固定桿，所述測試儀主體的前表面位于測試槽的一側設置有操作按鍵，所述測試槽的表面活動安裝有計數機構，所述測試儀主體的下表面固定安裝有調高框架。

優選的，所述上蓋殼的上表面位于中部位置設置有顯示屏，所述上蓋殼的上表面位于顯示屏的一側設置有信息指示燈。

優選的，所述計數機構包括安裝框架、發射端、接收端、紅外計數器、夾持件、復位彈簧、限位環、滑槽和滑塊，所述安裝框架的內側表面位于測試槽的一側設置有發射端，所述安裝框架的內側表面位于測試槽的另一側設置有接收端，所述安裝框架的外側表面固定安裝有紅外計數器，所述安裝框架的內側表面靠近下部位置活動安裝有夾持件，所述夾持件的一端固定連接有復位彈簧，所述安裝框架的內部位于夾持件的表面套設有限位環，所述安裝框架的內側底壁開設有滑槽，所述夾持件的下表面固定安裝有滑塊。

優選的，所述調高框架的下表面位于中部位置固定安裝有螺旋柱，所述螺旋柱的表面套設有螺旋座，所述螺旋座的下表面固定安裝有支撐座，所述支撐座的下表面固定安裝有防滑墊，所述螺旋座的內壁設置有螺旋紋。

優選的，所述發射端和所述接收端的底部高度與測試槽的上部高度平齊，所述夾持件通過滑塊與滑槽活動連接，所述安裝框架通過夾持件與測試槽的側壁固定連接。

優選的，所述測試儀主體與調高框架固定連接，所述調高框架通過螺旋柱在螺旋座的內部垂直升降。

與現有技術相比，本實用新型具有如下有益效果：

本實用新型中，通過設置的計數機構，計數機構中設有紅外計數器可以通過紅外發射端和接收端斷開接收的次數來計算出IC芯片的測試數量，從而省去人工點數的繁瑣，有利于統計IC芯片的測試量和考核工作人員工作量，通過設置的調高框架，調高框架能夠調節測試儀主體與工作臺面的高度，適應不同身高的操作人員進行測試，緩解操作人員長時間低頭測試而頸部酸痛的問題，且測試儀主體升高后會空出其下部的工作臺面以供放置IC芯片，從而達到有效利用工作臺面的作用。

附圖說明

圖1為本實用新型一種用于IC芯片的測試裝置的整體結構示意圖；