[實用新型]一種用于IC芯片的測試裝置

有效

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• 申請日: 2020-06-14
• 公開（公告）號: CN212722968U
• 公開（公告）日: 2021-03-16
• 發(fā)明（設計）人: 馬中原;袁東衛(wèi);張宏
• 申請（專利權）人: 深圳市佰泰盛世科技有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種用于IC芯片的測試裝置，其特征在于：包括測試儀主體(1)，所述測試儀主體(1)的上表面固定安裝有上蓋殼(2)，所述測試儀主體(1)的前表面設置有測試槽(3)，所述測試槽(3)的表面活動安裝有固定桿(4)，所述測試儀主體(1)的前表面位于測試槽(3)的一側設置有操作按鍵(5)，所述測試槽(3)的表面活動安裝有計數機構(6)，所述測試儀主體(1)的下表面固定安裝有調高框架(7)。

2.根據權利要求1所述的一種用于IC芯片的測試裝置，其特征在于：所述上蓋殼(2)的上表面位于中部位置設置有顯示屏(201)，所述上蓋殼(2)的上表面位于顯示屏(201)的一側設置有信息指示燈(202)。

3.根據權利要求1所述的一種用于IC芯片的測試裝置，其特征在于：所述計數機構(6)包括安裝框架(601)、發(fā)射端(602)、接收端(603)、紅外計數器(604)、夾持件(605)、復位彈簧(606)、限位環(huán)(607)、滑槽(608)和滑塊(609)，所述安裝框架(601)的內側表面位于測試槽(3)的一側設置有發(fā)射端(602)，所述安裝框架(601)的內側表面位于測試槽(3)的另一側設置有接收端(603)，所述安裝框架(601)的外側表面固定安裝有紅外計數器(604)，所述安裝框架(601)的內側表面靠近下部位置活動安裝有夾持件(605)，所述夾持件(605)的一端固定連接有復位彈簧(606)，所述安裝框架(601)的內部位于夾持件(605)的表面套設有限位環(huán)(607)，所述安裝框架(601)的內側底壁開設有滑槽(608)，所述夾持件(605)的下表面固定安裝有滑塊(609)。

4.根據權利要求1所述的一種用于IC芯片的測試裝置，其特征在于：所述調高框架(7)的下表面位于中部位置固定安裝有螺旋柱(701)，所述螺旋柱(701)的表面套設有螺旋座(702)，所述螺旋座(702)的下表面固定安裝有支撐座(703)，所述支撐座(703)的下表面固定安裝有防滑墊(704)，所述螺旋座(702)的內壁設置有螺旋紋(705)。

5.根據權利要求3所述的一種用于IC芯片的測試裝置，其特征在于：所述發(fā)射端(602)和所述接收端(603)的底部高度與測試槽(3)的上部高度平齊，所述夾持件(605)通過滑塊(609)與滑槽(608)活動連接，所述安裝框架(601)通過夾持件(605)與測試槽(3)的側壁固定連接。

6.根據權利要求4所述的一種用于IC芯片的測試裝置，其特征在于：所述測試儀主體(1)與調高框架(7)固定連接，所述調高框架(7)通過螺旋柱(701)在螺旋座(702)的內部垂直升降。