[實(shí)用新型]一種OLED CELL老化測(cè)試及白平衡測(cè)試裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202020680326.4
• 申請(qǐng)日: 2020-04-28
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN211742609U
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-10-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 韋文勇;齊斌斌;何海生;何栢根
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市創(chuàng)元微電子科技有限公司
• 主分類號(hào): G09G3/00
• 分類號(hào): G09G3/00
• 代理公司: 深圳市中科創(chuàng)為專利代理有限公司 44384
• 代理人: 譚雪婷;謝亮

本實(shí)用新型公開(kāi)一種OLED CELL老化測(cè)試及白平衡測(cè)試裝置，包括：Gamma探頭、測(cè)試器；所述測(cè)試器包括：Gamma探頭接口，與所述Gamma探頭接口連接的主控MCU模塊，與所述主控MCU模塊連接的第一FPGA模塊，與所述第一FPGA模塊連接的DAC數(shù)模轉(zhuǎn)換器，分別與所述DAC數(shù)模轉(zhuǎn)換器連接的AC模塊、DC模塊，連接器接口；所述Gamma探頭與所述Gamma探頭接口連接。本實(shí)用新型通過(guò)將用于調(diào)節(jié)OLED CELL的白平衡的Gamma探頭通過(guò)Gamma探頭接口與用于OLED CELL老化測(cè)試的測(cè)試器集成在一起，在對(duì)OLED CELL進(jìn)行老化測(cè)試的同時(shí)進(jìn)行OLED CELL的白平衡測(cè)試，可有效減少占用車間空間資源，提升生產(chǎn)效率。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及屏幕測(cè)試領(lǐng)域，尤其涉及一種OLED CELL老化測(cè)試及白平衡測(cè)試裝置。

背景技術(shù)

OLED屏幕以柔性有機(jī)發(fā)光材料為基材組建的顯示屏具有LCD屏無(wú)法比擬的輕薄、可彎曲、色彩對(duì)比度高、單獨(dú)點(diǎn)亮、屏幕響應(yīng)時(shí)間短等優(yōu)點(diǎn)。而且，OLED屏幕相比于LCD屏無(wú)需背光即可點(diǎn)亮屏幕。因此，OLED顯示模組在結(jié)構(gòu)上比LCD顯示模組更為簡(jiǎn)單。上述OLED屏幕的優(yōu)點(diǎn)導(dǎo)致OLED屏逐漸成為顯示屏領(lǐng)域的中堅(jiān)力量。在短短幾年間，OLED屏大規(guī)模商用于手持移動(dòng)設(shè)備、智能穿戴設(shè)備、汽車中控設(shè)備、汽車儀表盤、家用電器等。

OLED CELL、OLED驅(qū)動(dòng)IC、柔性排線、玻璃蓋板等主件組成了OLED屏幕。其中，OLEDCELL又叫OLED面板，它是OLED屏幕最重要的組成構(gòu)件。而導(dǎo)致OLED成品屏幕造價(jià)昂貴主要因素也出自于OLED CELL。因?yàn)椋琌LED CELL的不良率一直居高不下。所以，OLED生產(chǎn)企業(yè)對(duì)于OLED CELL出廠時(shí)都會(huì)有嚴(yán)格檢測(cè)篩查。因此，OLED CELL的測(cè)試設(shè)備在OLED生產(chǎn)企業(yè)有巨大的需求。

市面現(xiàn)有的OLED CELL測(cè)試設(shè)備功能比較單一。例如：OLED CELL的老化測(cè)試設(shè)備就只具備老化測(cè)試功能，并且大部分設(shè)備僅能老化測(cè)試一個(gè)OLED屏幕，不利于企業(yè)大規(guī)模老化測(cè)試OLED CELL。另外，OLED CELL的白平衡預(yù)調(diào)節(jié)也是OLED CELL的測(cè)試環(huán)節(jié)。市面上現(xiàn)有設(shè)備通過(guò)調(diào)節(jié)OLED CELL的白平衡就可以檢測(cè)OLED CELL是否存在顏色偏差等不良現(xiàn)象。而市面上預(yù)調(diào)節(jié)OLED CELL白平衡的設(shè)備不僅需要配合使用價(jià)格高昂的光學(xué)鏡頭用于采集OLED CELL的亮度值，色坐標(biāo)值等，而且還需要配備白平衡點(diǎn)亮調(diào)試設(shè)備才能正常調(diào)節(jié)OLED CELL白平衡。關(guān)聯(lián)設(shè)備太多不僅極大的占用了車間空間資源外，而且OLED CELL反復(fù)移動(dòng)于上述設(shè)備無(wú)法提高生產(chǎn)測(cè)試效率。

因此，現(xiàn)有技術(shù)存在缺陷，需要改進(jìn)。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問(wèn)題是：提供一種OLED CELL老化測(cè)試及白平衡測(cè)試裝置，能同時(shí)進(jìn)行老化測(cè)試和白平衡測(cè)試，減少占用車間空間資源，提升生產(chǎn)效率。

本實(shí)用新型的技術(shù)方案如下：提供一種OLED CELL老化測(cè)試及白平衡測(cè)試裝置，包括：Gamma探頭、測(cè)試器；所述測(cè)試器包括：Gamma探頭接口，與所述Gamma探頭接口連接的主控MCU模塊，與所述主控MCU模塊連接的第一FPGA模塊，與所述第一FPGA模塊連接的DAC數(shù)模轉(zhuǎn)換器，分別與所述DAC數(shù)模轉(zhuǎn)換器連接的AC模塊、DC模塊，與所述AC模塊連接的第一擴(kuò)流電路，與所述第一擴(kuò)流電路連接的第一擴(kuò)壓電路，與所述DC模塊連接的第二擴(kuò)流電路，與所述第二擴(kuò)流電路連接的第二擴(kuò)壓電路，分別與所述第一擴(kuò)壓電路、第二擴(kuò)壓電路連接的連接器接口；所述Gamma探頭與所述Gamma探頭接口連接。

所述測(cè)試器還包括：與所述主控MCU模塊連接的以太網(wǎng)接口模塊。