[實(shí)用新型]一種OLED CELL老化測(cè)試及白平衡測(cè)試裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202020680326.4
• 申請(qǐng)日: 2020-04-28
• 公開（公告）號(hào): CN211742609U
• 公開（公告）日: 2020-10-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 韋文勇;齊斌斌;何海生;何栢根
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市創(chuàng)元微電子科技有限公司
• 主分類號(hào): G09G3/00
• 分類號(hào): G09G3/00
• 代理公司: 深圳市中科創(chuàng)為專利代理有限公司 44384
• 代理人: 譚雪婷;謝亮

1.一種OLED CELL老化測(cè)試及白平衡測(cè)試裝置，其特征在于，包括：Gamma探頭、測(cè)試器；所述測(cè)試器包括：Gamma探頭接口，與所述Gamma探頭接口連接的主控MCU模塊，與所述主控MCU模塊連接的第一FPGA模塊，與所述第一FPGA模塊連接的DAC數(shù)模轉(zhuǎn)換器，分別與所述DAC數(shù)模轉(zhuǎn)換器連接的AC模塊、DC模塊，與所述AC模塊連接的第一擴(kuò)流電路，與所述第一擴(kuò)流電路連接的第一擴(kuò)壓電路，與所述DC模塊連接的第二擴(kuò)流電路，與所述第二擴(kuò)流電路連接的第二擴(kuò)壓電路，分別與所述第一擴(kuò)壓電路、第二擴(kuò)壓電路連接的連接器接口；所述Gamma探頭與所述Gamma探頭接口連接。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種OLED CELL老化測(cè)試及白平衡測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試器還包括：與所述主控MCU模塊連接的以太網(wǎng)接口模塊。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種OLED CELL老化測(cè)試及白平衡測(cè)試裝置，其特征在于，所述Gamma探頭包括：光學(xué)鏡片、快門、光電轉(zhuǎn)換器、與所述光電轉(zhuǎn)換器連接的A/D轉(zhuǎn)換模塊、與所述A/D轉(zhuǎn)換模塊連接的第二FPGA模塊、與所述第二FPGA模塊連接的CPU模塊、與所述CPU模塊連接的轉(zhuǎn)接口；所述快門設(shè)置在光學(xué)鏡片與光電轉(zhuǎn)換器之間；所述轉(zhuǎn)接口與所述Gamma探頭接口匹配。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種OLED CELL老化測(cè)試及白平衡測(cè)試裝置，其特征在于，所述Gamma探頭還包括：與所述CPU模塊連接的顯示屏。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種OLED CELL老化測(cè)試及白平衡測(cè)試裝置，其特征在于，所述轉(zhuǎn)接口為RS232接口。