[實用新型]一種用于IC芯片測試的裝夾裝置

有效

• 申請號: 202020577860.2
• 申請日: 2020-04-17
• 公開（公告）號: CN212159873U
• 公開（公告）日: 2020-12-15
• 發明（設計）人: 黃輝
• 申請（專利權）人: 深圳市芯片測試技術有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型公布了一種用于IC芯片測試的裝夾裝置，它包括夾臺，所述夾臺上配設有兩組寬度對中夾持塊以及兩組長度對中夾持塊，上述的寬度對中夾持塊和長度對中夾持塊分別與夾臺滑動連接，其后端面均通過彈性件連接推塊，在所述夾臺的內部設置驅動推塊對中裝夾的驅動部件，本實用新型提出一種用于IC芯片測試的裝夾裝置，能夠對芯片進行自動定心，且在裝夾時避免與芯片剛性接觸。

技術領域

本申請涉及芯片測試用具，具體是涉及一種用于IC芯片測試的裝夾裝置。

背景技術

IC芯片(Integrated Circuit集成電路)是將大量的微電子元器件(晶體管、電阻、電容等)形成的集成電路放在一塊塑基上，做成一塊芯片，而今幾乎所有看到的芯片，都可以叫做IC芯片。

芯片在封裝完成后，一般需要對芯片的合格性進行測試，以便將良品和不良品分開，然后，由于芯片屬于高精密產品，在進行檢測時，需要將檢測模具上的探針準確對準芯片上的焊點或引腳，然后現有技術中，芯片在測試時，定位精度不高，無法實現準確檢測，且裝夾芯片的夾具與芯片剛性接觸，容易損壞芯片。

發明內容

本實用新型主要針對以上問題，提出一種用于IC芯片測試的裝夾裝置，能夠對芯片進行自動定心，且在裝夾時避免與芯片剛性接觸。

為實現上述目的，本實用新型提供了以下技術方案：

根據一方面，本實用新型提供了一種用于IC芯片測試的裝夾裝置，它包括夾臺，所述夾臺上配設有兩組寬度對中夾持塊以及兩組長度對中夾持塊，上述的寬度對中夾持塊和長度對中夾持塊分別與夾臺滑動連接，其后端面均通過彈性件連接推塊，在所述夾臺的內部設置驅動推塊對中裝夾的驅動部件。

作為本實用新型一種用于IC芯片測試的裝夾裝置的一種改進，所述的寬度對中夾持塊沿長度方向設置至少一組夾柱，所述夾柱具有用于承載芯片的寬度夾持口；所述長度對中夾持塊具有用于承載芯片的長度夾持口。

作為本實用新型一種用于IC芯片測試的裝夾裝置的一種改進，所述夾臺中部設置有槽口，所述槽口的臺面上分別安裝有與寬度對中夾持塊和長度對中夾持塊滑動設置的滑軌，所述寬度對中夾持塊和長度對中夾持塊分別開設有與所述滑軌配合的滑口。

作為本實用新型一種用于IC芯片測試的裝夾裝置的一種改進，所述的驅動部件包括呈上下交叉配置的第一絲桿和第二絲桿，所述的第一絲桿和第二絲桿的一端分別穿過推塊與推塊螺紋連接，另一端分別設置大齒輪組與經驅動鏈條連接第一步進電機和第二步進電機的小齒輪組。

作為本實用新型一種用于IC芯片測試的裝夾裝置的一種改進，所述夾臺內部還設置有與推塊滑動設置的導桿。

作為本實用新型一種用于IC芯片測試的裝夾裝置的一種改進，所述夾臺上還設置有用于控制第一步進電機和第二步進電機啟閉的點觸開關。

依據上述技術方案，可以得知，本實用新型提出的一種用于IC芯片測試的裝夾裝置，相對于現有技術中而言，具有以下有益效果：

1、該裝夾裝置具有自動定心功能，通過啟動點觸開關，四個夾持塊分別鎖緊芯片，定位精度高；

2、通過設置彈性件可避免在裝夾過程時與芯片剛性接觸，由小齒輪帶動大齒輪轉動，通過降低裝夾速度，使得在定心時可以隨時停止；本實用新型的其它有益效果，在具體實施方式中進一闡明。

附圖說明

圖1為本申請用于IC芯片測試的裝夾裝置的立體結構示意圖。

圖2為本申請用于IC芯片測試的裝夾裝置的局部俯視圖。

圖3為夾臺內部的結構示意圖。

圖4為寬度對中夾持塊通過彈性件與推塊連接的結構示意圖。