[實(shí)用新型]一種用于IC芯片測(cè)試的裝夾裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202020577860.2 | 申請(qǐng)日: | 2020-04-17 |
| 公開(公告)號(hào): | CN212159873U | 公開(公告)日: | 2020-12-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃輝 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市芯片測(cè)試技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R1/04 | 分類號(hào): | G01R1/04 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 ic 芯片 測(cè)試 裝置 | ||
1.一種用于IC芯片測(cè)試的裝夾裝置,其特征在于,它包括夾臺(tái),所述夾臺(tái)上配設(shè)有兩組寬度對(duì)中夾持塊以及兩組長(zhǎng)度對(duì)中夾持塊,上述的寬度對(duì)中夾持塊和長(zhǎng)度對(duì)中夾持塊分別與夾臺(tái)滑動(dòng)連接,其后端面均通過彈性件連接推塊,在所述夾臺(tái)的內(nèi)部設(shè)置驅(qū)動(dòng)推塊對(duì)中裝夾的驅(qū)動(dòng)部件。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于IC芯片測(cè)試的裝夾裝置,其特征在于,所述的寬度對(duì)中夾持塊沿長(zhǎng)度方向設(shè)置至少一組夾柱,所述夾柱具有用于承載芯片的寬度夾持口;所述長(zhǎng)度對(duì)中夾持塊具有用于承載芯片的長(zhǎng)度夾持口。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于IC芯片測(cè)試的裝夾裝置,其特征在于,所述夾臺(tái)中部設(shè)置有槽口,所述槽口的臺(tái)面上分別安裝有與寬度對(duì)中夾持塊和長(zhǎng)度對(duì)中夾持塊滑動(dòng)設(shè)置的滑軌,所述寬度對(duì)中夾持塊和長(zhǎng)度對(duì)中夾持塊分別開設(shè)有與所述滑軌配合的滑口。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于IC芯片測(cè)試的裝夾裝置,其特征在于,所述的驅(qū)動(dòng)部件包括呈上下交叉配置的第一絲桿和第二絲桿,所述的第一絲桿和第二絲桿的一端分別穿過推塊與推塊螺紋連接,另一端分別設(shè)置大齒輪組與經(jīng)驅(qū)動(dòng)鏈條連接第一步進(jìn)電機(jī)和第二步進(jìn)電機(jī)的小齒輪組。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種用于IC芯片測(cè)試的裝夾裝置,其特征在于,所述夾臺(tái)內(nèi)部還設(shè)置有與推塊滑動(dòng)設(shè)置的導(dǎo)桿。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種用于IC芯片測(cè)試的裝夾裝置,其特征在于,所述夾臺(tái)上還設(shè)置有用于控制第一步進(jìn)電機(jī)和第二步進(jìn)電機(jī)啟閉的點(diǎn)觸開關(guān)。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測(cè)量?jī)x器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測(cè)量?jī)x器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測(cè)量?jī)x器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測(cè)量?jī)x器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路
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