[實(shí)用新型]一種具有防靜電功能的芯片測試治具

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202020573851.6
• 申請(qǐng)日: 2020-04-17
• 公開（公告）號(hào): CN212083607U
• 公開（公告）日: 2020-12-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 榮國青;門蒙;張健星
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 蘇州輝墾電子科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28;G01R1/02
• 代理公司: 蘇州智品專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32345
• 代理人: 呂明霞

本實(shí)用新型公開了一種具有防靜電功能的芯片測試治具，包括基座、活動(dòng)塊、擋塊，所述基座的上開設(shè)有活動(dòng)塊容納槽，所述活動(dòng)塊容納槽的前后兩側(cè)壁均開設(shè)有條形槽，所述擋塊固定在活動(dòng)塊容納槽的左右兩端且位于基座上面，所述活動(dòng)塊放置于活動(dòng)塊容納槽內(nèi)，所述活動(dòng)塊上設(shè)有芯片槽，所述芯片槽連接有感應(yīng)槽，所述感應(yīng)槽穿設(shè)于活動(dòng)塊上。本實(shí)用新型的有益效果是：是一種便于更換、防靜電的測試治具，通過將芯片槽底部采用防靜電的ESD420材質(zhì)制成，屏蔽靜電的效果，然后將芯片槽制成可拆卸的活動(dòng)塊，可實(shí)現(xiàn)僅更換活動(dòng)塊就可對(duì)不同尺寸、形狀的芯片進(jìn)行檢測，而且更換簡單、方便，同時(shí)可增加芯片槽的數(shù)量來提升檢測效率。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及芯片測試技術(shù)領(lǐng)域，具體為一種具有防靜電功能的芯片測試治具。

背景技術(shù)

芯片，又稱微電路（microcircuit）、微芯片（microchip）、集成電路（integratedcircuit即IC），是指內(nèi)含集成電路的硅片，體積很小，常常是計(jì)算機(jī)、移動(dòng)通信終端或其他電子設(shè)備的一部分，芯片被喻為國家的“工業(yè)糧食”，是所有整機(jī)設(shè)備的“心臟”。芯片產(chǎn)業(yè)是整個(gè)信息產(chǎn)業(yè)的核心部件和基石，也是國家信息安全的最后一道屏障。芯片產(chǎn)業(yè)為代表的新興產(chǎn)業(yè)，其涌現(xiàn)具有劃時(shí)代的意義，它不僅是中國及世界經(jīng)濟(jì)轉(zhuǎn)型發(fā)展的風(fēng)向標(biāo)，也是新興產(chǎn)業(yè)崛起的一次契機(jī)。由于芯片生產(chǎn)需經(jīng)過幾百步的工藝，任何一步的錯(cuò)誤都可能導(dǎo)致器件失效，因此芯片檢測環(huán)節(jié)至關(guān)重要，采用好的芯片測試設(shè)備和方法是提高芯片制造水平的關(guān)鍵。有很多的芯片檢測要求在沒有靜電的情況下進(jìn)行，而且芯片的大小也有不同，檢測治具更換麻煩，治具的安裝也浪費(fèi)工時(shí)。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型的目的在于提供一種具有防靜電功能的芯片測試治具，以解決上述背景技術(shù)中提出的問題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供如下技術(shù)方案：一種具有防靜電功能的芯片測試治具，包括基座、活動(dòng)塊、擋塊，所述基座的上開設(shè)有活動(dòng)塊容納槽，所述活動(dòng)塊容納槽的前后兩側(cè)壁均開設(shè)有條形槽，所述擋塊固定在活動(dòng)塊容納槽的左右兩端且位于基座上面，所述活動(dòng)塊放置于活動(dòng)塊容納槽內(nèi)，所述活動(dòng)塊上設(shè)有芯片槽，所述芯片槽連接有感應(yīng)槽，所述感應(yīng)槽穿設(shè)于活動(dòng)塊上。

進(jìn)一步優(yōu)選，所述擋塊的兩端均設(shè)有螺孔，所述擋塊的中間設(shè)有銷孔。

進(jìn)一步優(yōu)選，所述芯片槽呈球形面設(shè)計(jì)。

進(jìn)一步優(yōu)選，所述芯片槽的底部采用防靜電的ESD420材質(zhì)設(shè)計(jì)制作。

進(jìn)一步優(yōu)選，所述芯片槽和活動(dòng)塊容納槽設(shè)有對(duì)應(yīng)連通的通孔。

進(jìn)一步優(yōu)選，所述條形槽和感應(yīng)槽配合設(shè)計(jì)，所述條形槽的深度、寬度均大于或等于感應(yīng)槽的深度和寬度。

進(jìn)一步優(yōu)選，所述基座上的活動(dòng)塊容納槽的數(shù)量不少于一個(gè)，所述活動(dòng)塊的數(shù)量配合活動(dòng)塊容納槽設(shè)計(jì)

進(jìn)一步優(yōu)選，所述活動(dòng)塊上的芯片槽的數(shù)量不少于一個(gè)。

有益效果

本實(shí)用新型的具有防靜電功能的芯片測試治具，是一種便于更換、防靜電的測試治具，通過將芯片槽底部采用防靜電的ESD420材質(zhì)制成，屏蔽靜電的效果，然后將芯片槽制成可拆卸的活動(dòng)塊，可實(shí)現(xiàn)僅更換活動(dòng)塊就可對(duì)不同尺寸、形狀的芯片進(jìn)行檢測，而且更換簡單、方便，同時(shí)可增加芯片槽的數(shù)量來提升檢測效率。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例所公開的一種具有防靜電功能的芯片測試治具的結(jié)構(gòu)示意圖。

附圖標(biāo)記

1-基座，11-活動(dòng)塊容納槽，12-條形槽，13-固定孔，2-活動(dòng)塊，21-芯片槽，22-感應(yīng)槽，3-擋塊，31-螺孔，32-銷孔，4-定位銷。

具體實(shí)施方式