[實(shí)用新型]一種具有防靜電功能的芯片測(cè)試治具

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202020573851.6
• 申請(qǐng)日: 2020-04-17
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN212083607U
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-12-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 榮國(guó)青;門(mén)蒙;張健星
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 蘇州輝墾電子科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28;G01R1/02
• 代理公司: 蘇州智品專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32345
• 代理人: 呂明霞

1.一種具有防靜電功能的芯片測(cè)試治具，其特征在于：包括基座（1）、活動(dòng)塊（2）、擋塊（3），所述基座（1）的上開(kāi)設(shè)有活動(dòng)塊容納槽（11），所述活動(dòng)塊容納槽（11）的前后兩側(cè)壁均開(kāi)設(shè)有條形槽（12），所述擋塊（3）固定在活動(dòng)塊容納槽（11）的左右兩端且位于基座（1）上面，所述活動(dòng)塊（2）放置于活動(dòng)塊容納槽（11）內(nèi)，所述活動(dòng)塊（2）上設(shè)有芯片槽（21），所述芯片槽（21）連接有感應(yīng)槽（22），所述感應(yīng)槽（22）穿設(shè)于活動(dòng)塊（2）上。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種具有防靜電功能的芯片測(cè)試治具，其特征在于：所述擋塊（3）的兩端均設(shè)有螺孔（31），所述擋塊（3）的中間設(shè)有銷孔（32）。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種具有防靜電功能的芯片測(cè)試治具，其特征在于：所述芯片槽（21）呈球形面設(shè)計(jì)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種具有防靜電功能的芯片測(cè)試治具，其特征在于：所述芯片槽（21）的底部采用防靜電的ESD420材質(zhì)設(shè)計(jì)制作。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種具有防靜電功能的芯片測(cè)試治具，其特征在于：所述芯片槽（21）和活動(dòng)塊容納槽（11）設(shè)有對(duì)應(yīng)連通的通孔。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種具有防靜電功能的芯片測(cè)試治具，其特征在于：所述條形槽（12）和感應(yīng)槽（22）配合設(shè)計(jì)，所述條形槽（12）的深度、寬度均大于或等于感應(yīng)槽（22）的深度和寬度。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種具有防靜電功能的芯片測(cè)試治具，其特征在于：所述基座（1）上的活動(dòng)塊容納槽（11）的數(shù)量不少于一個(gè)，所述活動(dòng)塊（2）的數(shù)量配合活動(dòng)塊容納槽（11）設(shè)計(jì)。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種具有防靜電功能的芯片測(cè)試治具，其特征在于：所述活動(dòng)塊（2）上的芯片槽（21）的數(shù)量不少于一個(gè)。