[實(shí)用新型]一種適用于芯片加熱測(cè)試的一體式吸嘴有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202020562748.1 | 申請(qǐng)日: | 2020-04-16 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN211578719U | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-09-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 榮國(guó)青;門蒙;張健星 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 蘇州輝墾電子科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/683 | 分類號(hào): | H01L21/683;H01L21/66 |
| 代理公司: | 蘇州智品專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32345 | 代理人: | 呂明霞 |
| 地址: | 215134 江蘇省蘇州市*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 適用于 芯片 加熱 測(cè)試 體式 | ||
本實(shí)用新型公開(kāi)了一種適用于芯片加熱測(cè)試的一體式吸嘴,包括氣管、連接塊、壓塊,所述氣管和連接塊連接,所述連接塊和壓塊連接,所述壓塊上設(shè)有凸起,所述凸起上設(shè)有通孔,所述通孔貫穿凸起、壓塊、連接塊,并和氣管連通。本實(shí)用新型的有益效果是:將吸嘴和壓塊相結(jié)合,整體采用金屬材質(zhì)制作,結(jié)實(shí)耐用,且壓塊上設(shè)有凸起,可卡接在芯片上,起到精準(zhǔn)定位的效果,同時(shí)可用于芯片加熱測(cè)試,可減少熱量流失,節(jié)約能源,提升芯片加熱檢測(cè)的效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及吸嘴技術(shù)領(lǐng)域,具體為一種適用于芯片加熱測(cè)試的一體式吸嘴。
背景技術(shù)
現(xiàn)今社會(huì),芯片產(chǎn)業(yè)發(fā)展越來(lái)越快,芯片的小型化、多功能是現(xiàn)代芯片產(chǎn)業(yè)的發(fā)展趨勢(shì)。芯片檢測(cè)是芯片生產(chǎn)中重要一步,決定著芯片能否順利運(yùn)行。在芯片測(cè)試過(guò)程中,需要用到吸嘴來(lái)搬運(yùn)芯片,常用的吸嘴都是橡膠吸嘴,但這種吸嘴在芯片加熱測(cè)試中無(wú)法使用,橡膠在高溫條件下容易變形損壞,不利于芯片的測(cè)試。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的在于提供一種適用于芯片加熱測(cè)試的一體式吸嘴,以解決上述背景技術(shù)中提出的問(wèn)題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型提供如下技術(shù)方案:一種適用于芯片加熱測(cè)試的一體式吸嘴,包括氣管、連接塊、壓塊,所述氣管和連接塊連接,所述連接塊和壓塊連接,所述壓塊上設(shè)有凸起,所述凸起上設(shè)有通孔,所述通孔貫穿凸起、壓塊、連接塊,并和氣管連通。
進(jìn)一步優(yōu)選,所述連接塊采用圓形設(shè)計(jì),其上設(shè)有卡口。
進(jìn)一步優(yōu)選,所述凸起采用十字型設(shè)計(jì),并設(shè)有四個(gè)呈卡爪狀的伸出端。
進(jìn)一步優(yōu)選,所述凸起上設(shè)有讓位槽。
進(jìn)一步優(yōu)選,所述氣管采用大小圓臺(tái)階型設(shè)計(jì),其小臺(tái)階設(shè)置于連接塊的下方。
進(jìn)一步優(yōu)選,所述氣管、連接塊、壓塊、凸起采用一體式、同軸度設(shè)計(jì)。
有益效果
本實(shí)用新型的適用于芯片加熱測(cè)試的一體式吸嘴,將吸嘴和壓塊相結(jié)合,整體采用金屬材質(zhì)制作,結(jié)實(shí)耐用,且壓塊上設(shè)有凸起,可卡接在芯片上,起到精準(zhǔn)定位的效果,同時(shí)可用于芯片加熱測(cè)試,可減少熱量流失,節(jié)約能源,提升芯片加熱檢測(cè)的效率,且一體式設(shè)計(jì),結(jié)構(gòu)緊湊。
附圖說(shuō)明
圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例所公開(kāi)的一種適用于芯片加熱測(cè)試的一體式吸嘴的結(jié)構(gòu)示意圖。
附圖標(biāo)記
1-氣管,2-連接塊,3-壓塊,4-凸起,5-讓位槽,6-通孔,7-卡口。
具體實(shí)施方式
以下是本實(shí)用新型的具體實(shí)施例并結(jié)合附圖,對(duì)本實(shí)用新型的技術(shù)方案作進(jìn)一步的描述,但本實(shí)用新型并不限于這些實(shí)施例。
實(shí)施例
如圖1所示,一種適用于芯片加熱測(cè)試的一體式吸嘴,包括氣管1、連接塊2、壓塊3,所述氣管1和連接塊2連接,所述連接塊2和壓塊3連接,所述壓塊3上設(shè)有凸起4,所述凸起4上設(shè)有通孔6,所述通孔6貫穿凸起4、壓塊3、連接塊2,并和氣管1連通。
優(yōu)選的,所述連接塊2采用圓形設(shè)計(jì),其上設(shè)有卡口7,便于卡住吸嘴,防止其旋轉(zhuǎn)。
優(yōu)選的,所述凸起4采用十字型設(shè)計(jì),并設(shè)有四個(gè)呈卡爪狀的伸出端,可卡住芯片,所述凸起4的伸出端可沿著芯片槽下行,起到引導(dǎo)定位的效果。
優(yōu)選的,所述凸起4上設(shè)有讓位槽5,保護(hù)芯片。
優(yōu)選的,所述氣管1采用大小圓臺(tái)階型設(shè)計(jì),其小臺(tái)階設(shè)置于連接塊2的下方,使吸嘴可可接在設(shè)備上,防止吸嘴受力滑動(dòng)。
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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