[實用新型]一種四拼芯片測試機構

有效

• 申請號: 202020542858.1
• 申請日: 2020-04-14
• 公開（公告）號: CN211578711U
• 公開（公告）日: 2020-09-25
• 發明（設計）人: 榮國青;門蒙;張健星
• 申請（專利權）人: 蘇州輝墾電子科技有限公司
• 主分類號: H01L21/677
• 分類號: H01L21/677;H01L21/683;H01L21/66
• 代理公司: 蘇州智品專利代理事務所(普通合伙) 32345
• 代理人: 呂明霞

本實用新型公開了一種四拼芯片測試機構，包括連接單元、傳動結構、測試單元，連接單元包含治具連接板，治具連接板上設有方形排列的四個第一芯片槽、四個第一墊片槽，傳動結構包含連接基板、吸嘴固定塊、壓塊、吸嘴，測試單元包含基座，基座上設有放心排列的四個第二芯片槽、兩個感應槽。本實用新型的有益效果是：是一種高精度的芯片測試機構，芯片通過傳動結構抓取、放置，芯片放置位置精準，傳動結構無需調整，工序少，節省工時，提高了芯片的檢測效率，同時墊片槽內的支撐墊片、銷釘可防止芯片在傳動過程中因過壓而損傷，提高芯片檢測的合格率，減少損失，且可同時檢測四個芯片，效率高。

技術領域

本實用新型涉及芯片測試技術領域，具體為一種四拼芯片測試機構。

背景技術

隨著科技的發展，芯片產業發展越來越快，芯片的小型化、多功能是現代芯片產業的發展趨勢。由于芯片生產需經過幾百步的工藝，任何一步的錯誤都可能導致器件失效，因此芯片檢測環節至關重要，采用好的芯片測試機構可以提高芯片生產的合格率。常見的芯片檢測機構，往往只能一次檢測一個或兩個芯片，檢測效率低下，且芯片在傳動過程中沒有保護，經常出現過壓導致的壓傷、損壞，使芯片造成極大的浪費。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種四拼芯片測試機構，以解決上述背景技術中提出的問題。

為實現上述目的，本實用新型提供如下技術方案：一種四拼芯片測試機構，包括連接單元、傳動結構、測試單元，所述連接單元包含治具連接板，所述治具連接板上分別設有方形排列的四個第一芯片槽、四個第一墊片槽，所述四個第一芯片槽設置于四個第一墊片槽的內側，所述治具連接板上設有兩個第二墊片槽，且分別布置于兩個第一芯片槽中間；

所述傳動結構包含連接基板、吸嘴固定塊、壓塊、吸嘴，所述吸嘴貫穿吸嘴固定塊、壓塊的中心位置，并和連接基板相連通，所述壓塊和連接基板連接；

所述測試單元包含基座，所述基座上設有方形排列的四個第二芯片槽，所述基座上設有兩個感應槽，且分別貫穿兩個第二芯片槽，所述第二芯片槽的左右兩側均設有銷釘。

進一步優選，所述第二墊片槽的長度是第一墊片槽的兩倍，所述第二墊片槽內連接有兩組支撐墊片，所述第一墊片槽內連接有一組支撐墊片。

進一步優選，所述第一芯片槽采用通槽設計，所述第二芯片槽采用盲槽設計。

進一步優選，所述壓塊的下面和連接基板的上面設有相配合的凹型槽，其槽的大小配合吸嘴固定塊設計。

進一步優選，所述連接基板上配合連接有相同結構的兩個壓塊、兩個吸嘴及兩個吸嘴固定塊。

進一步優選，所述第一芯片槽和第二芯片槽的位置均對應設置。

進一步優選，所述壓塊上設有和銷釘相配合的銷孔，所述第一芯片槽的兩側設有和壓塊上銷孔相配合的防旋轉定位銷。

進一步優選，所述吸嘴的位置和芯片槽的位置配合設置。

有益效果

本實用新型的四拼芯片測試機構，是一種高精度的芯片測試機構，芯片通過傳動結構抓取、放置，芯片放置位置精準，傳動結構無需調整，工序少，節省工時，提高了芯片的檢測效率，同時墊片槽內的支撐墊片、銷釘可防止芯片在傳動過程中因過壓而損傷，提高芯片檢測的合格率，減少損失，且本實用的測試機構可同時檢測四個芯片，效率高。

附圖說明

圖1為本實用新型實施例所公開的一種四拼芯片測試機構的結構示意圖。

附圖標記

11-治具連接板，12-第一芯片槽，13-第一墊片槽，14-第二墊片槽，21-連接基板，22-吸嘴固定塊，23-壓塊，24-吸嘴，25-搭扣，31-基座，32-第二芯片槽，33-感應槽，34-銷釘。