[實用新型]一種四拼芯片測試機構

有效

• 申請號: 202020542858.1
• 申請日: 2020-04-14
• 公開（公告）號: CN211578711U
• 公開（公告）日: 2020-09-25
• 發明（設計）人: 榮國青;門蒙;張健星
• 申請（專利權）人: 蘇州輝墾電子科技有限公司
• 主分類號: H01L21/677
• 分類號: H01L21/677;H01L21/683;H01L21/66
• 代理公司: 蘇州智品專利代理事務所(普通合伙) 32345
• 代理人: 呂明霞

1.一種四拼芯片測試機構，包括連接單元、傳動結構、測試單元，其特征在于：所述連接單元包含治具連接板（11），所述治具連接板（11）上設有方形排列的四個第一芯片槽（12）、四個第一墊片槽（13），所述四個第一芯片槽（12）設置于四個第一墊片槽（13）的內側，所述治具連接板（11）上設有兩個第二墊片槽（14），且分別布置于兩個第一芯片槽（12）中間；

所述傳動結構包含連接基板（21）、吸嘴固定塊（22）、壓塊（23）、吸嘴（24），所述吸嘴（24）貫穿吸嘴固定塊（22）、壓塊（23）的中心位置，并和連接基板（21）相連通，所述壓塊（23）和連接基板（21）連接；

所述測試單元包含基座（31），所述基座（31）上設有方形排列的四個第二芯片槽（32），所述基座（31）上設有兩個感應槽（33），且分別貫穿兩個第二芯片槽（32），所述第二芯片槽（32）的左右兩側均設有銷釘（34）。

2.根據權利要求1所述的一種四拼芯片測試機構，其特征在于：所述第二墊片槽（14）的長度是第一墊片槽（13）的兩倍，所述第二墊片槽（14）內連接有兩組支撐墊片，所述第一墊片槽（13）內連接有一組支撐墊片。

3.根據權利要求1所述的一種四拼芯片測試機構，其特征在于：所述第一芯片槽（12）采用通槽設計，所述第二芯片槽（32）采用盲槽設計。

4.根據權利要求1所述的一種四拼芯片測試機構，其特征在于：所述壓塊（23）的下面和連接基板（21）的上面設有相配合的凹型槽，其槽的大小配合吸嘴固定塊（22）設計。

5.根據權利要求1所述的一種四拼芯片測試機構，其特征在于：所述連接基板（21）上配合連接有相同結構的兩個壓塊（23）、兩個吸嘴（24）及兩個吸嘴固定塊（22）。

6.根據權利要求1所述的一種四拼芯片測試機構，其特征在于：所述第一芯片槽（12）和第二芯片槽（32）的位置均對應設置。

7.根據權利要求1所述的一種四拼芯片測試機構，其特征在于：所述壓塊（23）上設有和銷釘（34）相配合的銷孔，所述第一芯片槽（12）的兩側設有和壓塊（23）上銷孔相配合的防旋轉定位銷。

8.根據權利要求1所述的一種四拼芯片測試機構，其特征在于：所述吸嘴（24）的位置和芯片槽的位置配合設置。