[實用新型]一種PCB電路板的測試裝置

有效

• 申請號: 202020312793.1
• 申請日: 2020-03-13
• 公開（公告）號: CN211905455U
• 公開（公告）日: 2020-11-10
• 發明（設計）人: 趙丙南
• 申請（專利權）人: 納瓦電子（上海）有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/28
• 代理公司: 上海恒慧知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 31317
• 代理人: 張寧展

1.一種PCB電路板的測試裝置，其特征在于：包括箱體和箱蓋，所述箱體內部設置有測試底板，所述測試底板上設置有SD卡識別機構，以及多個導向柱，其旁邊設置有壓合機構，所述壓合機構用于施加下壓力，將套裝在多個導向柱上的待測電路板壓向SD卡識別機構，使兩者電聯接，或者解除下壓力，使兩者電聯接中斷；所述SD卡識別機構用于對待測電路板上的SD卡識別性能進行測試。

2.根據權利要求1所述的PCB電路板的測試裝置，其特征在于：所述SD卡識別機構包括與待測電路板上的SD卡槽一樣的樣品SD卡槽，所述樣品SD卡槽設置在測試底板上，其內部插裝有SD卡，其各個信號端PIN腳上對應設置有第一頂針，其觸發端PIN腳的旁邊也設置有第二頂針，所述第一頂針的自由端與下壓的待測電路板上SD卡槽的各個信號端PIN腳對應接觸，所述第二頂針的自由端與下壓的待測電路板上SD卡槽的觸發端PIN腳接觸，其固定端與處理器相連，所述處理器下發觸發信號，通過第二頂針傳送給待測電路板上的主芯片。

3.根據權利要求2所述的PCB電路板的測試裝置，其特征在于：所述處理器通過電動機與壓合機構相連，還與光照傳感器相連，所述光照傳感器用于檢測箱體內部是否有光線，所述處理器接收光照傳感器的檢測結果，通過電動機控制壓合機構，帶動待測電路板向壓向或者遠離SD卡識別機構。

4.根據權利要求2所述的PCB電路板的測試裝置，其特征在于：所述第一頂針的自由端對準待測電路板上SD卡槽的信號端PIN腳的固定端，所述信號端PIN腳的固定端靠近SD卡槽用于容納SD卡的部件。

5.根據權利要求1所述的PCB電路板的測試裝置，其特征在于：各個所述導向柱的位置與待測電路板本身的通孔對應設置。

6.根據權利要求1所述的PCB電路板的測試裝置，其特征在于：所述測試底板上設置有與待測電路板上的射頻連接器對應的公或母頭，所述壓合機構用于施加下壓力，將套裝在多個導向柱上的待測電路板壓向射頻連接器對應的公或母頭，使兩者電聯接，或者解除下壓力，使兩者電聯接中斷。