[實用新型]一種存儲器可靠性測試裝置有效
| 申請號: | 202020271990.3 | 申請日: | 2020-03-06 |
| 公開(公告)號: | CN211087930U | 公開(公告)日: | 2020-07-24 |
| 發明(設計)人: | 陳尚立 | 申請(專利權)人: | 深圳市中科藍訊科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G11C29/56 | 分類號: | G11C29/56 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市南山*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 存儲器 可靠性 測試 裝置 | ||
1.一種存儲器可靠性測試裝置,其特征在于,包括控制器、電源模塊和測試工位,
所述測試工位用于放置待測試芯片;
所述電源模塊與待測試芯片和控制器連接,分別為控制器和待測試芯片供電;
所述控制器分別與待測試芯片和電源模塊連接,控制電源模塊的測試電壓輸出以及待測試芯片的flash操作。
2.如權利要求1所述的測試裝置,其特征在于,所述測試電壓根據測試模式的不同而不同。
3.如權利要求2所述的測試裝置,其特征在于,所述測試模式包括波動測試、陡升陡降測試、間歇性斷電測試。
4.如權利要求3所述的測試裝置,其特征在于,所述波動測試下測試電壓為正弦波或/和三角波。
5.如權利要求3所述的測試裝置,其特征在于,所述陡升陡降測試下測試電壓為方波。
6.如權利要求3所述的測試裝置,其特征在于,所述間歇性斷電測試下測試電壓為斷續波。
7.如權利要求1-6任一項所述的測試裝置,其特征在于,所述測試工位具有多個。
8.如權利要求7所述的測試裝置,其特征在于,所述測試裝置還包括顯示器,用于顯示待測試芯片的測試結果。
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