[實用新型]物證勘察設備

有效

• 申請號: 202020214861.0
• 申請日: 2020-02-26
• 公開（公告）號: CN211454090U
• 公開（公告）日: 2020-09-08
• 發明（設計）人: 宋志宏
• 申請（專利權）人: 杭州衡利電子技術有限公司
• 主分類號: G02B21/24
• 分類號: G02B21/24;G02B21/26
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 李夢寧

本實用新型涉及勘察設備技術領域，尤其涉及一種物證勘察設備，該物證勘察設備包括基座、顯微鏡和位置調節機構；其中，基座能夠固定在物體表面，且基座和顯微鏡均與位置調節機構連接，位置調節機構用于調節顯微鏡與基座的相對位置，且顯微鏡能夠相對基座沿平行于基座與物體表面接觸的固定面的方向移動。本實用新型提供的物證勘察設備，可減小對現場的污染面積。

技術領域

本實用新型涉及勘察設備技術領域，尤其涉及一種物證勘察設備。

背景技術

物證勘察設備能夠為刑事案件的偵破帶來巨大幫助，廣泛適用于辦案現場各類物證(如：人體脫落皮屑、汗跡、血液、唾液斑、精斑等)的勘察。

存在一些物證勘察設備設置有顯微鏡，使用時，將顯微鏡固定(直接固定或間接固定)到物體表面，以保證顯微鏡的鏡頭能夠穩定成像，現有的物證勘察設備上的顯微鏡每次觀察完其所能觀察到的區域之后，均需要更換固定位置，而顯微鏡每次可觀察的面積(以毫米為單位)較小，現場需要勘察的面積(以米為單位)較大，形成巨大比例，故更換頻率較高，容易對現場造成較大面積的污染。

綜上，如何克服現有的物證勘察設備的上述缺陷是本領域技術人員亟待解決的技術問題。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種物證勘察設備，以緩解現有技術中的物證勘察設備存在的容易對現場造成較大面積的污染的技術問題。

本實用新型提供的物證勘察設備包括基座、顯微鏡和位置調節機構。

其中，所述基座能夠固定在物體表面，且所述基座和所述顯微鏡均與所述位置調節機構連接，所述位置調節機構用于調節所述顯微鏡與所述基座的相對位置，且所述顯微鏡能夠相對所述基座沿平行于所述基座與物體表面接觸的固定面的方向移動。

優選地，作為一種可實施方式，所述位置調節機構能夠帶動所述顯微鏡相對所述基座沿X軸移動；和/或，所述位置調節機構能夠帶動所述顯微鏡相對所述基座沿Y軸移動；和/或，所述位置調節機構能夠帶動所述顯微鏡相對所述基座繞Y軸旋轉；和/或，所述位置調節機構能夠帶動所述顯微鏡相對所述基座沿Z軸移動。

其中，X軸垂直于Y軸，且X軸和Y軸均平行于所述基座與物體表面接觸的固定面；Z軸平行于所述顯微鏡的鏡頭的軸線。

優選地，作為一種可實施方式，所述位置調節機構包括X軸移動架、Y軸移動架和Y軸旋轉架。

所述基座上開設有沿X軸延伸的X軸滑槽，所述X軸移動架與所述X軸滑槽滑動配合；或，所述X軸移動架與所述基座滑動配合，所述基座上固定設置有沿X軸延伸的X軸齒條，所述X軸移動架上安裝有X軸齒輪，所述X軸齒輪與所述X軸齒條嚙合；

所述Y軸移動架與所述X軸移動架滑動配合，所述X軸移動架上安裝有Y軸齒輪，所述Y軸移動架上固定設置有沿Y軸延伸的Y軸齒條，所述Y軸齒輪與所述X軸移動架轉動配合，所述Y軸齒輪與所述 Y軸齒條嚙合；

所述Y軸旋轉架與所述Y軸移動架轉動配合，且所述Y軸旋轉架能夠相對所述Y軸移動架繞Y軸旋轉；

所述顯微鏡與所述Y軸旋轉架滑動配合，所述Y軸旋轉架上安裝有Z軸齒輪，所述Z軸齒輪與所述Y軸旋轉架轉動配合，所述顯微鏡上固定設置有沿Z軸延伸的Z軸齒條，所述Z軸齒條與所述Z軸齒輪嚙合。

優選地，作為一種可實施方式，所述X軸移動架上開設有鎖緊螺紋孔，所述鎖緊螺紋孔內穿設有鎖緊螺絲，所述鎖緊螺絲能夠與所述基座的表面抵接；當所述鎖緊螺絲與所述基座的表面抵接時，所述X 軸移動架與所述基座相對固定；