[實用新型]物證勘察設備

有效

• 申請號: 202020214861.0
• 申請日: 2020-02-26
• 公開（公告）號: CN211454090U
• 公開（公告）日: 2020-09-08
• 發明（設計）人: 宋志宏
• 申請（專利權）人: 杭州衡利電子技術有限公司
• 主分類號: G02B21/24
• 分類號: G02B21/24;G02B21/26
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 李夢寧

1.一種物證勘察設備，其特征在于，包括基座(10)、顯微鏡(20)和位置調節機構；

其中，所述基座(10)能夠固定在物體表面，且所述基座(10)和所述顯微鏡(20)均與所述位置調節機構連接，所述位置調節機構用于調節所述顯微鏡(20)與所述基座(10)的相對位置，且所述顯微鏡(20)能夠相對所述基座(10)沿平行于所述基座(10)與物體表面接觸的固定面的方向移動。

2.根據權利要求1所述的物證勘察設備，其特征在于，所述位置調節機構能夠帶動所述顯微鏡(20)相對所述基座(10)沿X軸移動；和/或，所述位置調節機構能夠帶動所述顯微鏡(20)相對所述基座(10)沿Y軸移動；和/或，所述位置調節機構能夠帶動所述顯微鏡(20)相對所述基座(10)繞Y軸旋轉；和/或，所述位置調節機構能夠帶動所述顯微鏡(20)相對所述基座(10)沿Z軸移動；

其中，X軸垂直于Y軸，且X軸和Y軸均平行于所述基座(10)與物體表面接觸的固定面；Z軸平行于所述顯微鏡(20)的鏡頭的軸線。

3.根據權利要求2所述的物證勘察設備，其特征在于，所述位置調節機構包括X軸移動架(30)、Y軸移動架(40)和Y軸旋轉架(50)；

所述基座(10)上開設有沿X軸延伸的X軸滑槽，所述X軸移動架(30)與所述X軸滑槽滑動配合；或，所述X軸移動架(30)與所述基座(10)滑動配合，所述基座(10)上固定設置有沿X軸延伸的X軸齒條(102)，所述X軸移動架(30)上安裝有X軸齒輪，所述X軸齒輪與所述X軸齒條(102)嚙合；

所述Y軸移動架(40)與所述X軸移動架(30)滑動配合，所述X軸移動架(30)上安裝有Y軸齒輪，所述Y軸移動架(40)上固定設置有沿Y軸延伸的Y軸齒條(401)，所述Y軸齒輪與所述X軸移動架(30)轉動配合，所述Y軸齒輪與所述Y軸齒條(401)嚙合；

所述Y軸旋轉架(50)與所述Y軸移動架(40)轉動配合，且所述Y軸旋轉架(50)能夠相對所述Y軸移動架(40)繞Y軸旋轉；

所述顯微鏡(20)與所述Y軸旋轉架(50)滑動配合，所述Y軸旋轉架(50)上安裝有Z軸齒輪，所述Z軸齒輪與所述Y軸旋轉架(50)轉動配合，所述顯微鏡(20)上固定設置有沿Z軸延伸的Z軸齒條(201)，所述Z軸齒條(201)與所述Z軸齒輪嚙合。

4.根據權利要求3所述的物證勘察設備，其特征在于，所述X軸移動架(30)上開設有鎖緊螺紋孔，所述鎖緊螺紋孔內穿設有鎖緊螺絲，所述鎖緊螺絲能夠與所述基座(10)的表面抵接；當所述鎖緊螺絲與所述基座(10)的表面抵接時，所述X軸移動架(30)與所述基座(10)相對固定；

和/或，所述X軸移動架(30)上開設有第一阻尼螺紋孔，所述第一阻尼螺紋孔內穿設有第一阻尼螺絲，所述第一阻尼螺絲的端部與所述基座(10)的表面抵接；當驅動所述X軸移動架(30)沿X軸移動的外力為零時，所述X軸移動架(30)與所述基座(10)相對固定；當驅動所述X軸移動架(30)沿X軸移動的外力大于零時，所述第一阻尼螺絲與所述X軸滑槽之間存在滑動摩擦力；

和/或，所述Y軸旋轉架(50)上開設有第二阻尼螺紋孔，所述第二阻尼螺紋孔內穿設有第二阻尼螺絲，所述第二阻尼螺絲的端部與所述Y軸移動架(40)的表面抵接；當驅動所述Y軸旋轉架(50)繞Y軸旋轉的外力為零時，所述Y軸旋轉架(50)與所述Y軸移動架(40) 相對固定；當驅動所述Y軸旋轉架(50)繞Y軸旋轉的外力大于零時，所述第二阻尼螺絲與所述Y軸移動架(40)之間存在滑動摩擦力；

和/或，所述Y軸旋轉架(50)上安裝有Z軸限位塊，所述Z軸限位塊與所述顯微鏡(20)的表面抵接，用于限制所述顯微鏡(20)相對所述Y軸旋轉架(50)的晃動。

5.根據權利要求3所述的物證勘察設備，其特征在于，所述X軸移動架(30)上設置有X軸調節手輪(303)，所述X軸調節手輪(303)與所述X軸齒輪同軸固定；

和/或，所述X軸移動架(30)上設置有Y軸調節手輪(301)，所述Y軸調節手輪(301)與所述Y軸齒輪同軸固定；

和/或，所述Y軸旋轉架(50)上設置有Z軸調節手輪(501)，所述Z軸調節手輪(501)與所述Z軸齒輪同軸固定。