[實用新型]一種具有自檢及電氣防護的故障注入的試驗電路

有效

• 申請號: 202020093591.2
• 申請日: 2020-01-16
• 公開（公告）號: CN213041925U
• 公開（公告）日: 2021-04-23
• 發明（設計）人: 朱海姣;張杰
• 申請（專利權）人: 浙江亞太機電股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R31/67;G01R1/36
• 代理公司: 杭州求是專利事務所有限公司 33200
• 代理人: 林超

1.一種具有自檢及電氣防護的故障注入的試驗電路，其特征在于：所述的試驗電路包括單片機MCU1、CAN收發器M1、繼電器開關結構，繼電器開關結構包括繼電器LS4、繼電器LS5和繼電器LS6；單片機MCU1的PA5腳、PA6腳、PA7腳分別連接到繼電器LS4、繼電器LS5和繼電器LS6電磁鐵部分的一端，繼電器LS4、繼電器LS5和繼電器LS6電磁鐵部分的另一端接地，繼電器LS4、繼電器LS5和繼電器LS6銜鐵部分的公共端連接到測試連接器CONNECT1；繼電器LS4、繼電器LS5和繼電器LS6銜鐵部分的一個觸電端懸空，繼電器LS4、繼電器LS5和繼電器LS6銜鐵部分的另一個觸電端連接到一起后連接到電流采集芯片IN193的VIN-端，采樣電阻R7并聯在電流采集芯片IN193的VIN+端，電流采集芯片IN193的VIN+端分別和三級管Q5和三極管Q3的集電極連接，電流采集芯片INA193的OUT端經電容C5接地，電流采集芯片INA193的OUT端連接單片機MCU1的PAD09號腳，I電流采集芯片INA193的V+端接VCC；三極管Q3的發射極連接VCC，三極管Q3、三極管Q5的基極分別連接單片機MCU1的PA1引腳、PA2引腳，三極管Q3、三極管Q5的基極分別連接三極管Q4、三極管Q6的集電極，三極管Q4、三極管Q6的基極連接單片機MCU1的PA4引腳、PA3引腳，三極管Q4和三極管Q6的發射極均接地；運算比較器U1的正相輸入端連接測試連接器CONNECT1，運算比較器U1的反相輸入端經電阻R8接VCC，運算比較器U1的反相輸入端經電阻R9接地，運算比較器U1的輸出端連接單片機MCU1的PAD00引腳；運算比較器U2的正相輸入端連接測試連接器CONNECT1，運算比較器U2的反相輸入端經電阻R10接VCC，運算比較器U2的反相輸入端經電阻R11接地，運算比較器U2的輸出端連接單片機MCU1的PAD01引腳；運算比較器U3的正相輸入端連接測試連接器CONNECT1，運算比較器U3的反相輸入端經電阻R12接VCC，運算比較器U3的反相輸入端經電阻R13接地，運算比較器U3的輸出端連接單片機MCU1的PAD02引腳；單片機MCU1的PA0引腳連接CAN收發器M1的MODE腳，CAN收發器M1的CANH腳連接測試接口CONNECT1，CAN收發器M1的6號腳連接測試接口CONNECT1，CAN收發器M1的RXD腳連接單片機MCU1的PM0腳，CAN收發器M1的VCC腳連接電源VCC，CAN收發器M1的VCC腳經電容C1接地，CAN收發器M1的TXD腳連接單片機MCU1的PM1腳；單片機MCU1的PAD08引腳連接三極管Q7的基極，三極管Q7的發射極接地，三極管Q7的集電極經LED燈DS1連接VCC。

2.根據權利要求1所述的一種具有自檢及電氣防護的故障注入的試驗電路，其特征在于：所述的單片機MCU1的EXTAL腳和XTAL腳之間串聯有電阻R5。

3.根據權利要求1所述的一種具有自檢及電氣防護的故障注入的試驗電路，其特征在于：所述的單片機MCU1的EXTAL腳和XTAL腳分別和晶振Y1的兩端連接，晶振Y1的兩端分別經電容C2和電容C3后接地。

4.根據權利要求1所述的一種具有自檢及電氣防護的故障注入的試驗電路，其特征在于：所述的單片機MCU1的RST引腳經電容C4接地，單片機MCU1的RST引腳經電阻R6連接到電源電壓VCC。