[實用新型]自動檢測設備有效
| 申請號: | 202020065121.5 | 申請日: | 2020-01-13 |
| 公開(公告)號: | CN211528440U | 公開(公告)日: | 2020-09-18 |
| 發明(設計)人: | 李小軍;李元慶;薛向輝;夏良剛 | 申請(專利權)人: | 易普森智慧健康科技(深圳)有限公司 |
| 主分類號: | G01N35/00 | 分類號: | G01N35/00;G01N35/02;G01N35/04;G01N21/84 |
| 代理公司: | 深圳市隆天聯鼎知識產權代理有限公司 44232 | 代理人: | 孫強 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市羅湖區清*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 自動檢測 設備 | ||
1.一種自動檢測設備,其特征在于,包括:
機臺,所述機臺內部固設有控制主板,所述控制主板用于控制與所述控制主板相連的多個機構的運行和初始化檢測,其中,所述控制主板通過控制與該控制主板電連接的X軸、Y軸、Z軸以及升降機構依次進行移動并接收X軸、Y軸、Z軸以及升降機構在移動過程中由分別在X軸、Y軸、Z軸以及升降機構上設置的限位傳感器反饋的信號進行初始化檢測;
升降機構,固定設于所述機臺上;所述升降機構包括升降部和承載部,所述承載部固定設于所述升降部上;所述升降部與所述控制主板電連接,所述升降部在豎直方向上設有兩個均與所述控制主板電連接的限位傳感器,所述升降部在所述控制主板提供的信號的作用下帶動所述承載部沿豎直方向升降;
料倉,可置于所述升降機構的所述承載部上;所述料倉沿豎直方向依次容納多個玻片載具,所述玻片載具用于容納玻片;所述料倉在所述升降部的帶動下使得各所述玻片載具依次停留至玻片載具輸送工位,所述料倉在一側設有出口,所述出口用于從所述料倉取出玻片載具;
掃描機構,固定設于所述機臺上;所述掃描機構包括與所述控制主板電連接的第一相機,所述第一相機用于抓拍所述玻片,進而所述掃描機構獲取所述玻片的信息;
檢測機構,包括檢測部和Z軸,所述Z軸固定設于位于所述Z軸下方的Z軸墊高塊上,且相對于所述機臺的臺面垂直設置,所述Z軸與所述控制主板電連接,并在所述控制主板中信號的作用下實現伸縮,所述Z軸在豎直方向上設有至少兩個與所述控制主板電連接的限位傳感器,所述Z軸墊高塊固定設于所述機臺上;所述檢測部固定設在固定于所述Z軸且從所述Z軸伸出的托臂上,從而相對于所述機臺懸空設置;所述檢測部與所述控制主板電連接,包括顯微鏡部件和設置在所述顯微鏡部件上方的第二相機,所述顯微鏡部件用于觀察所述玻片上標本的狀態,所述第二相機用于抓拍所述顯微鏡部件呈現的畫面;
光源,固定設于所述機臺上;所述光源位于所述檢測機構的正下方,所述光源用于從下方向所述玻片提供光照;
玻片載具移載機構,設置于所述升降機構靠近所述掃描機構的一側;所述玻片載具移載機構包括均與所述控制主板電連接的第一移載機構和第二移載機構,所述第二移載機構包括中空的載盤;所述第一移載機構在所述載具輸送工位處卡合所述玻片載具,且所述第一移載機構帶動所述玻片載具由所述料倉移動至所述第二移載機構的載盤;所述第二移載機構承載所述玻片載具,且所述第二移載機構帶動所述玻片載具從下方經過所述掃描機構和檢測機構,其中,所述玻片載具通過所述光源和所述檢測機構之間的空隙經過所述檢測機構,所述第二移載機構包括相互垂直的且均可以伸縮的X軸和Y軸,所述X軸和Y軸均與所述Z軸垂直,所述X軸和Y軸均在可伸縮的方向上設有三個與所述控制主板電連接的限位傳感器,所述第二移載機構通過X軸的伸縮帶動所述玻片載具依次從下方經過所述掃描機構和檢測機構,所述Y軸可在均與所述X軸和Z軸垂直的方向上伸縮,以帶動所述第二移載機構在靠近或遠離所述Z軸的方向上移動;及
感應模塊,所述感應模塊固設于所述機臺上且固設在所述檢測機構和所述料倉在機臺表面的投影之間,所述感應模塊與所述控制主板電連接,用于在感應到所述第二移載機構的載盤經過所述感應模塊正上方且未承載玻片載具時向所述控制主板發送信號,使所述控制主板控制所述第一移載機構在所述載具輸送工位處卡合并帶動下一個玻片載具由所述料倉移動至所述第二移載機構的載盤。
2.如權利要求1所述的自動檢測設備,其特征在于,在所述升降部相對于所述承載部的另一側固設有與所述升降部同寬的加強板,所述加強板與所述升降部相貼合。
3.如權利要求2所述的自動檢測設備,其特征在于,在所述加強板兩側的邊緣沿豎直方向設置有與所述加強板垂直的加強筋。
4.如權利要求1所述的自動檢測設備,其特征在于,所述自動檢測設備包括聚光機構,所述聚光機構包括所述光源、聚光鏡支架和聚光鏡,所述聚光鏡支架固設在機臺上,所述聚光鏡固設在所述聚光鏡支架上,并使所述聚光鏡位于所述光源的正上方且所述玻片載具從所述聚光鏡上方經過所述檢測機構。
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