[發明專利]指針式儀表讀數方法、裝置、計算機設備和存儲介質

在審

• 申請號: 202011645315.3
• 申請日: 2020-12-31
• 公開（公告）號: CN112668578A
• 公開（公告）日: 2021-04-16
• 發明（設計）人: 王雪竹;陳少南;陳武;陳國棟
• 申請（專利權）人: 中廣核研究院有限公司;中國廣核集團有限公司;中國廣核電力股份有限公司
• 主分類號: G06K9/32
• 分類號: G06K9/32;G06K9/20;G06K9/46
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 姚姝婭

1.一種指針式儀表讀數方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取指針式儀表圖像對應的灰度圖像；

根據所述灰度圖像中物體邊緣線的傾斜程度，對所述灰度圖像進行角度校正，得到校正后的灰度圖像；

從所述校正后的灰度圖像中提取出儀表區域，根據所述儀表區域的原始圖像、模糊化圖像和銳化圖像，得到所述儀表區域對應的區域邊緣圖像；

從所述區域邊緣圖像中識別出多個指針，并獲取各個所述指針的指針角度；

根據各個所述指針的指針角度，得到所述指針式儀表圖像對應的儀表讀數。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在根據所述灰度圖像中物體的傾斜程度，對所述灰度圖像進行角度校正，得到校正后的灰度圖像之前，還包括：

對所述灰度圖像進行邊緣提取處理，得到所述指針式儀表圖像對應的儀表邊緣圖像；

從所述儀表邊緣圖像中識別出標準長直線段，作為物體邊緣線。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據所述灰度圖像中物體邊緣線的傾斜程度，對所述灰度圖像進行角度校正，得到校正后的灰度圖像，包括：

根據所述物體邊緣線的傾斜角度，得到透視變換矩陣；所述透視變換矩陣用于將在圖像中呈現為斜線的直線物體轉換為直線；

保持所述灰度圖像的中心點位置不變，根據所述透視變換矩陣，對所述灰度圖像進行校正，得到使所述物體邊緣線垂直或平行于地平面的灰度圖像，作為校正后的灰度圖像。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述從所述校正后的灰度圖像中提取出儀表區域，根據所述儀表區域的原始圖像、模糊化圖像和銳化圖像，得到所述儀表區域對應的區域邊緣圖像，包括：

對所述校正后的灰度圖像進行邊緣提取處理，得到儀表區域；

獲取所述儀表區域的原始圖像、模糊化圖像和銳化圖像，分別對所述原始圖像、所述模糊化圖像和所述銳化圖像進行邊緣提取處理，得到原始邊緣圖像、模糊化邊緣圖像和銳化邊緣圖像；

融合所述原始邊緣圖像、所述模糊化邊緣圖像和所述銳化邊緣圖像，得到所述儀表區域對應的區域邊緣圖像。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述對所述校正后的灰度圖像進行邊緣提取處理，得到儀表區域，包括：

對所述校正后的灰度圖像進行邊緣提取處理，得到符合預設儀表尺寸的輪廓，將所述輪廓包括的區域作為候選儀表區域；

從所述候選儀表區域中識別出底盤區域輪廓和邊框區域輪廓，將包圍所述底盤區域輪廓和所述邊框區域輪廓的最小區域，作為儀表區域。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述從所述候選儀表區域中識別出底盤區域輪廓和邊框區域輪廓，包括：

對所述候選儀表區域及設定范圍內相鄰區域的灰度圖像進行二值化分割，得到分割閾值；

根據所述分割閾值和所述候選儀表區域中的最大灰度值，得到底盤區域分割閾值；所述灰度值為所述候選儀表區域中像素點的灰度值；

根據所述分割閾值與所述候選儀表區域中的最小灰度值，得到邊框區域分割閾值；

分別采用所述底盤區域分割閾值和所述邊框分割閾值對所述候選儀表區域的灰度圖像進行二值化分割，得到底盤區域輪廓和邊框區域輪廓。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據各個所述指針的指針角度，得到所述指針式儀表圖像對應的儀表讀數，包括：

獲取所述指針式儀表的基準尺寸；

根據所述基準尺寸和從所述指針式儀表圖像中提取出的儀表區域的尺寸，對所述指針角度進行校正，得到校正指針角度；

根據所述指針式儀表的指針角度和讀數的變換關系，得到所述校正指針角度對應的讀數，作為所述指針式儀表圖像對應的儀表讀數。