[發(fā)明專利]跨導(dǎo)參數(shù)的測試電路、測試方法和測試系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011644513.8 | 申請日： | 2020-12-31 |
| 公開（公告）號： | CN112834892A | 公開（公告）日： | 2021-05-25 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 胡江;耿霄雄;鐘鋒浩 | 申請（專利權(quán)）人： | 杭州長川科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/26 | 分類號： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 安衛(wèi)靜 |
| 地址： | 310000 浙*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 參數(shù) 測試 電路 方法 系統(tǒng) | ||
1.一種跨導(dǎo)參數(shù)的測試電路，其特征在于，包括：電壓源、電流源、積分單元和差分測量單元；
所述電壓源的第一端與待測壓控器件的第一極連接，所述電壓源的第二端接地；
所述電流源的第一端和所述待測壓控器件的第二極連接，所述電流源的第二端接地；
所述積分單元分別與所述待測壓控器件的第二極、第三極連接，且所述積分單元在所述第二極和所述第三極之間可形成負(fù)反饋；
所述差分測量單元分別與所述待測壓控器件的第二極、第三極連接，用于檢測所述待測壓控器件第二極和第三極之間的電壓；
其中，所述第一極和所述第二極為所述待測壓控器件的輸出級，所述第三極為所述待測壓控器件的輸入極，且所述第三極和所述第二極之間的壓差能夠決定所述第一極和所述第二極之間的輸出特性。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試電路，其特征在于，所述積分單元包括：電壓跟隨器和反相積分器。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試電路，其特征在于，所述電壓跟隨器的正相輸入端與所述待測壓控器件的第二極連接，所述電壓跟隨器的輸出端與所述反相積分器的反相輸入端連接，所述反相積分器的輸出端與所述待測壓控器件的第三極連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試電路，其特征在于，所述待測壓控器件包括以下任一種：金屬-氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管、絕緣柵雙極型晶體管。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試電路，其特征在于，當(dāng)所述待測壓控器件為所述金屬-氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管時，所述待測壓控器件的第一極為所述金屬-氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管的漏極，所述待測壓控器件的第二極為所述金屬-氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管的源極，所述待測壓控器件的第三極為所述金屬-氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管的柵極；
當(dāng)所述待測壓控器件為所述絕緣柵雙極型晶體管時，所述待測壓控器件的第一極為所述絕緣柵雙極型晶體管的集電極，所述待測壓控器件的第二極為所述絕緣柵雙極型晶體管的發(fā)射極，所述待測壓控器件的第三極為所述絕緣柵雙極型晶體管的柵極。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試電路，其特征在于，所述電壓源的電壓值固定不變。
7.一種跨導(dǎo)參數(shù)的測試方法，其特征在于，所述測試方法應(yīng)用于上述權(quán)利要求1-6中任一項所述的跨導(dǎo)參數(shù)的測試電路，所述測試方法包括：
當(dāng)?shù)谝粯O和第二極之間的電流為第一電流值時，獲取差分測量單元測得的第一電壓值；
當(dāng)所述第一極和所述第二極之間的電流為第二電流值時，獲取所述差分測量單元測得的第二電壓值；
基于所述第一電流值、所述第二電流值、所述第一電壓值和所述第二電壓值計算待測壓控器件的跨導(dǎo)參數(shù)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試方法，其特征在于，基于所述第一電流值、所述第二電流值、所述第一電壓值和所述第二電壓值計算待測壓控器件的跨導(dǎo)參數(shù)，包括：
根據(jù)跨導(dǎo)參數(shù)計算算式計算所述待測壓控器件的跨導(dǎo)參數(shù)，其中，Gfs表示所述跨導(dǎo)參數(shù)，ΔI表示所述第一電流值和所述第二電流值之間的差值，ΔV表示所述第一電壓值和所述第二電壓值之間的差值。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試方法，其特征在于，所述第一電流值為第一預(yù)設(shè)值，所述第二電流值為第二預(yù)設(shè)值。
10.一種跨導(dǎo)參數(shù)的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試系統(tǒng)包括上述權(quán)利要求1-6中任一項所述的跨導(dǎo)參數(shù)的測試電路，還包括：主機(jī)箱、測試頭、待測壓控器件；
所述測試電路中的電壓源和電流源設(shè)置在所述主機(jī)箱內(nèi)的資源板上，所述資源板通過測試線纜與所述測試頭連接，所述測試電路中的積分單元、差分測量單元分別與所述測試頭連接，所述測試頭還與所述待測壓控器件連接。
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