[發明專利]假陽性樣本的排除方法、裝置以及電子設備在審
| 申請號: | 202011643816.8 | 申請日: | 2020-12-30 |
| 公開(公告)號: | CN112669909A | 公開(公告)日: | 2021-04-16 |
| 發明(設計)人: | 李冬;楊智;賀賢漢 | 申請(專利權)人: | 杭州博日科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G16B45/00 | 分類號: | G16B45/00;G16B40/30;G16B40/10 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 張萌 |
| 地址: | 310000 浙江省杭州市*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 陽性 樣本 排除 方法 裝置 以及 電子設備 | ||
1.一種假陽性樣本的排除方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取未知樣本的擴增數據;
通過聚類方法從所述未知樣本的擴增數據中確定明顯擴增樣本;
計算所述明顯擴增樣本的多個循環信號的標準差、所述明顯擴增樣本的最大擴增高度以及所述最大擴增高度對應的Ct-max值;
基于所述標準差、所述最大擴增高度以及所述Ct-max值,排除所述未知樣本中的假陽性樣本。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述計算所述明顯擴增樣本的多個循環信號的標準差、所述明顯擴增樣本的最大擴增高度以及所述最大擴增高度對應的Ct-max值的步驟,包括:
計算所述明顯擴增樣本的多個循環信號的標準差;
根據多倍所述標準差的位置,得到所述明顯擴增樣本的Ct值,并基于所述Ct值查找所述明顯擴增樣本的最大擴增高度以及所述最大擴增高度對應的Ct-max值。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述標準差、所述最大擴增高度以及所述Ct-max值,排除所述未知樣本中的假陽性樣本的步驟,包括:
計算所述標準差的平均值;
根據所述平均值排除所述未知樣本中的假陽性樣本,并基于所述最大擴增高度以及所述Ct-max值排除所述未知樣本中的假陽性樣本。
4.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,多倍所述標準差的位置中的倍數為10倍;
所述根據所述平均值排除所述未知樣本中的假陽性樣本的步驟,包括:
在除所述明顯擴增樣本以外的樣本的最大擴增高度小于10倍平均標準差時,將所述擴增數據中的擴增曲線置為0,以排除所述未知樣本中的假陽性樣本。
5.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,所述基于所述最大擴增高度以及所述Ct-max值排除所述未知樣本中的假陽性的步驟,包括:
在除所述明顯擴增樣本以外的樣本的最大擴增高度小于所述明顯擴增樣本的最大擴增高度的1/5,且除所述明顯擴增樣本以外的樣本的Ct值小于所述Ct-max值時,將所述擴增數據中的擴增曲線置為0,以排除所述未知樣本中的假陽性樣本。
6.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述擴增數據為PCR擴增數據;
所述假陽性樣本為PCR假陽性樣本。
7.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述聚類方法為K-means聚類方法。
8.一種假陽性樣本的排除裝置,其特征在于,包括:
獲取模塊,用于獲取未知樣本的擴增數據;
確定模塊,用于通過聚類方法從所述未知樣本的擴增數據中確定明顯擴增樣本;
計算模塊,用于計算所述明顯擴增樣本的多個循環信號的標準差、所述明顯擴增樣本的最大擴增高度以及所述最大擴增高度對應的Ct-max值;
排除模塊,用于基于所述標準差、所述最大擴增高度以及所述Ct-max值,排除所述未知樣本中的假陽性樣本。
9.一種電子設備,包括存儲器、處理器,所述存儲器中存儲有可在所述處理器上運行的計算機程序,其特征在于,所述處理器執行所述計算機程序時實現上述權利要求1至7任一項所述的方法的步驟。
10.一種計算機可讀存儲介質,其特征在于,所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機可運行指令,所述計算機可運行指令在被處理器調用和運行時,所述計算機可運行指令促使所述處理器運行所述權利要求1至7任一項所述的方法。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于杭州博日科技股份有限公司,未經杭州博日科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202011643816.8/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種大功率量子點光頻梳激光器
- 下一篇:業務功能調用方法、移動終端和存儲介質





