[發明專利]軟件質量的評估方法、裝置及服務器在審
| 申請號: | 202011643464.6 | 申請日: | 2020-12-31 |
| 公開(公告)號: | CN112783762A | 公開(公告)日: | 2021-05-11 |
| 發明(設計)人: | 段德浩;李敬賀;閆俊均;王永強;張國志 | 申請(專利權)人: | 中電金信軟件有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/36 | 分類號: | G06F11/36 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 安衛靜 |
| 地址: | 100000 北京市海淀區西*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 軟件 質量 評估 方法 裝置 服務器 | ||
1.一種軟件質量的評估方法,其特征在于,包括:
獲取待評估軟件的基礎缺陷數據;
從預設的多個數據分析算法中確定目標分析算法,并通過所述目標分析算法對所述基礎缺陷數據進行缺陷分析,得到所述基礎缺陷數據對應的缺陷分析數據;
基于所述缺陷分析數據生成并展示所述待評估軟件的評估結果。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法應用于軟件質量評估平臺,所述軟件質量評估平臺配置有至少一個數據分析算法;
所述從預設的多個數據分析算法中確定目標分析算法的步驟,包括:
通過所述軟件質量評估平臺的交互界面展示各個數據分析算法;
響應用戶針對各個所述數據分析算法的選擇操作,將所述選擇操作對應的數據分析算法確定為目標分析算法;其中,所述數據分析算法至少包括瑞利分布算法、戈珀茲分布算法、指數分布算法。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,在所述通過所述目標分析算法對所述基礎缺陷數據進行缺陷分析,得到所述基礎缺陷數據對應的缺陷分析數據的步驟之前,所述方法還包括:
響應用戶針對所述目標分析算法的參數修改操作,接收所述用戶上傳的目標參數;
基于所述目標參數更新所述目標分析算法的參數,以使用更新參數后的目標分析算法對所述基礎缺陷數據進行缺陷分析。
4.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述基礎缺陷數據包括預估缺陷數據或測試缺陷數據,所述預估缺陷數據用于表征所述待評估軟件在預估階段時的缺陷,所述測試缺陷數據用于表征所述待評估軟件在測試階段時的缺陷;
在所述得到所述基礎缺陷數據對應的缺陷分析數據的步驟之后,所述方法還包括:
比對所述預估缺陷數據對應的缺陷分析數據和所述測試缺陷數據對應的缺陷分析數據,得到比對結果;
基于所述比對結果對所述目標分析算法的參數進行調整,以優化所述目標分析算法。
5.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述缺陷分析數據生成并展示所述待評估軟件的評估結果的步驟,包括:
根據所述缺陷分析數據繪制缺陷分析圖表,并根據所述缺陷分析圖表生成所述待評估軟件的評估結果;
通過所述交互界面展示所述待評估軟件的評估結果。
6.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
將所述評估結果發送至指定關聯終端。
7.一種軟件質量的評估裝置,其特征在于,包括:
數據獲取模塊,用于獲取待評估軟件的基礎缺陷數據;
分析模塊,用于從預設的多個數據分析算法中確定目標分析算法,并通過所述目標分析算法對所述基礎缺陷數據進行缺陷分析,得到所述基礎缺陷數據對應的缺陷分析數據;
展示模塊,用于基于所述缺陷分析數據生成并展示所述待評估軟件的評估結果。
8.根據權利要求7所述的裝置,其特征在于,所述裝置應用于軟件質量評估平臺,所述軟件質量評估平臺配置有至少一個數據分析算法;
所述分析模塊還用于:
通過所述軟件質量評估平臺的交互界面展示各個數據分析算法;
響應用戶針對各個所述數據分析算法的選擇操作,將所述選擇操作對應的數據分析算法確定為目標分析算法;其中,所述數據分析算法至少包括瑞利分布算法、戈珀茲分布算法、指數分布算法。
9.一種服務器,其特征在于,包括處理器和存儲器;
所述存儲器上存儲有計算機程序,所述計算機程序在被所述處理器運行時執行如權利要求1至6任一項所述的方法。
10.一種計算機存儲介質,其特征在于,用于儲存為權利要求1至6任一項所述方法所用的計算機軟件指令。
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