[發明專利]雷達感應模塊測試方法及裝置

在審

• 申請號: 202011642300.1
• 申請日: 2020-12-31
• 公開（公告）號: CN112834996A
• 公開（公告）日: 2021-05-25
• 發明（設計）人: 張航瑜
• 申請（專利權）人: 上海鐳芯微電子股份有限公司
• 主分類號: G01S7/40
• 分類號: G01S7/40
• 代理公司: 上海申新律師事務所 31272
• 代理人: 竺路玲

本發明公開了雷達感應模塊測試方法及裝置，屬于雷達感應技術領域。本發明的雷達感應模塊測試方法采用測試架中的多個采集模塊與多個待測雷達感應模塊連接，通過每一個采集模塊采集對應的待測雷達感應模塊的電壓信號，從而實現同時對多個待測雷達感應模塊同時進行測試的目的；根據每一個采集模塊采集的電壓信號生成相應的采集波形，基于采集波形獲取與相應的采集模塊對應的待測雷達感應模塊的測試結果。本技術方案無需借助頻譜儀簡化了測試環境搭建的復雜度，可批量測試多個雷達感應模塊，有效的提高了測試效率。

技術領域

本發明涉及雷達感應技術領域，尤其涉及雷達感應模塊測試方法及裝置。

背景技術

雷達感應模塊由于其感應距離遠、角度廣、無死角，能穿透玻璃及薄木板，可根據功率的不同穿透不同厚度的墻壁，不受環境、溫度、灰塵等影響，而被廣泛應用，特別是在照明領域中。通過雷達感應控制燈具實現人來即亮，人走即滅的智能節能的目的。由于雷達感應模塊易受干擾，對測試環境要求苛刻，需要專門屏蔽室，因此現有的雷達感應模塊測試方法都是單個測試，耗時長、測試效率低。在測試時，通過頻譜儀判斷雷達感應模塊是否起振作為檢測手段，但頻譜儀只能進行單個模塊的測試，測試成本昂貴、效率低且需要借助儀器。

發明內容

針對現有雷達感應模塊測試只能進行單個模塊的測試，測試效率低且需要借助頻譜儀的問題，現提供一種旨在無需借助頻譜儀，可批量測試雷達感應模塊，測試效率高的雷達感應模塊測試方法及裝置。

本發明提供了一種雷達感應模塊測試方法，包括：

將至少兩個待測雷達感應模塊與測試架中相應的采集模塊連接；

分別通過每一個所述采集模塊采集與所述采集模塊對應的所述待測雷達感應模塊的電壓信號；

分別根據每一個所述采集模塊采集的所述電壓信號生成相應的采集波形；

根據每一所述采集波形獲取與相應的所述采集模塊對應的所述待測雷達感應模塊的測試結果。

可選的，所述測試架包括至少兩個采集模塊，每個所述采集模塊對應一組測試接口，每組所述測試接口與所述待測雷達感應模塊的一組測試端對應。

可選的，將至少兩個待測雷達感應模塊與測試架中相應的采集模塊連接，包括：

將至少兩個所述待測雷達感應模塊的所述測試端與測試架中相應的所述采集模塊的所述測試接口連接。

可選的，分別根據每一個所述采集模塊采集的所述電壓信號生成相應的采集波形，包括：

分別根據每一所述采集模塊采集的所述電壓信號的電壓采集點的時序生成相應的所述采集波形。

可選的，每一所述采集模塊對應一顯示窗口，雷達感應模塊測試方法還包括：

通過所述顯示窗口顯示所述采集模塊采集的所述采集波形。

可選的，根據每一所述采集波形獲取與相應的所述采集模塊對應的所述待測雷達感應模塊的測試結果，包括：

當所述待測雷達感應模塊處于上電狀態，與所述待測雷達感應模塊對應的所述采集模塊未采集到所述采集波形時，所述測試結果為所述待測雷達感應模塊無感應功能；或

探測目標在所述待測雷達感應模塊的預設距離范圍內移動，當所述待測雷達感應模塊處于上電狀態，與所述待測雷達感應模塊對應的所述采集模塊采集到所述采集波形的波動幅度小于第一預設閾值時，所述測試結果為所述待測雷達感應模塊的感應距離異常；或

當所述待測雷達感應模塊處于上電狀態，在所述待測雷達感應模塊的預設距離范圍內無所述探測目標，與所述待測雷達感應模塊對應的所述采集模塊采集到的所述采集波形的波動幅度大于第二預設閾值時，所述測試結果為所述待測雷達感應模塊之間存在干擾。