[發明專利]雷達感應模塊測試方法及裝置

在審

• 申請號: 202011642300.1
• 申請日: 2020-12-31
• 公開（公告）號: CN112834996A
• 公開（公告）日: 2021-05-25
• 發明（設計）人: 張航瑜
• 申請（專利權）人: 上海鐳芯微電子股份有限公司
• 主分類號: G01S7/40
• 分類號: G01S7/40
• 代理公司: 上海申新律師事務所 31272
• 代理人: 竺路玲

1.一種雷達感應模塊測試方法，其特征在于，包括：

將至少兩個待測雷達感應模塊與測試架中相應的采集模塊連接；

分別通過每一個所述采集模塊采集與所述采集模塊對應的所述待測雷達感應模塊的電壓信號；

分別根據每一個所述采集模塊采集的所述電壓信號生成相應的采集波形；

根據每一所述采集波形獲取與相應的所述采集模塊對應的所述待測雷達感應模塊的測試結果。

2.根據權利要求1所述的雷達感應模塊測試方法，其特征在于，所述測試架包括至少兩個采集模塊，每個所述采集模塊對應一組測試接口，每組所述測試接口與所述待測雷達感應模塊的一組測試端對應。

3.根據權利要求2所述的雷達感應模塊測試方法，其特征在于，將至少兩個待測雷達感應模塊與測試架中相應的采集模塊連接，包括：

將至少兩個所述待測雷達感應模塊的所述測試端與測試架中相應的所述采集模塊的所述測試接口連接。

4.根據權利要求1所述的雷達感應模塊測試方法，其特征在于，分別根據每一個所述采集模塊采集的所述電壓信號生成相應的采集波形，包括：

分別根據每一所述采集模塊采集的所述電壓信號的電壓采集點的時序生成相應的所述采集波形。

5.根據權利要求1所述的雷達感應模塊測試方法，其特征在于，每一所述采集模塊對應一顯示窗口，雷達感應模塊測試方法還包括：

通過所述顯示窗口顯示所述采集模塊采集的所述采集波形。

6.根據權利要求1所述的雷達感應模塊測試方法，其特征在于，根據每一所述采集波形獲取與相應的所述采集模塊對應的所述待測雷達感應模塊的測試結果，包括：

當所述待測雷達感應模塊處于上電狀態，與所述待測雷達感應模塊對應的所述采集模塊未采集到所述采集波形時，所述測試結果為所述待測雷達感應模塊無感應功能；或

探測目標在所述待測雷達感應模塊的預設距離范圍內移動，當所述待測雷達感應模塊處于上電狀態，與所述待測雷達感應模塊對應的所述采集模塊采集到所述采集波形的波動幅度小于第一預設閾值時，所述測試結果為所述待測雷達感應模塊的感應距離異常；或

當所述待測雷達感應模塊處于上電狀態，在所述待測雷達感應模塊的預設距離范圍內無所述探測目標，與所述待測雷達感應模塊對應的所述采集模塊采集到的所述采集波形的波動幅度大于第二預設閾值時，所述測試結果為所述待測雷達感應模塊之間存在干擾。

7.一種雷達感應模塊測試裝置，其特征在于，包括：

測試架，包括至少兩個采集模塊，至少兩個待測雷達感應模塊與所述測試架中相應的所述采集模塊連接；

所述采集模塊，用于采集與所述采集模塊對應的所述待測雷達感應模塊的電壓信號；

生成模塊，用于根據每一個所述采集模塊采集的所述電壓信號生成相應的采集波形；

處理模塊，用于根據每一所述采集波形獲取與相應的所述采集模塊對應的所述待測雷達感應模塊的測試結果。

8.根據權利要求7所述的雷達感應模塊測試裝置，其特征在于，每個所述采集模塊對應一組測試接口，每組所述測試接口與所述待測雷達感應模塊的一組測試端對應；

至少兩個所述待測雷達感應模塊的所述測試端與測試架中相應的所述采集模塊的所述測試接口連接。

9.根據權利要求1所述的雷達感應模塊測試裝置，其特征在于，生成模塊用于分別根據每一所述采集模塊采集的所述電壓信號的電壓采集點的時序生成相應的所述采集波形。

10.根據權利要求1所述的雷達感應模塊測試裝置，其特征在于，還包括：

顯示模塊，包括多個顯示窗口，每一所述采集模塊對應一顯示窗口，通過所述顯示窗口顯示所述采集模塊采集的所述采集波形。