[發明專利]一種芯片快速檢測設備及快速檢測方法

有效

• 申請號: 202011640910.8
• 申請日: 2020-12-31
• 公開（公告）號: CN112833946B
• 公開（公告）日: 2022-07-15
• 發明（設計）人: 王維佳;王寶利
• 申請（專利權）人: 深圳市展芯科技有限公司
• 主分類號: G01D21/02
• 分類號: G01D21/02
• 代理公司: 合肥利交橋專利代理有限公司 34259
• 代理人: 劉冉

1.一種芯片快速檢測設備，包括箱體(1)和開口(2)，其特征在于：所述箱體(1)內部頂部固定裝有液壓缸(3)，所述液壓缸(3)輸出端通過伸縮桿(4)固定連接下壓板(5)，所述下壓板(5)底面固定設有支撐桿(6)，所述支撐桿(6)向下延伸的一端裝設有檢測裝置，所述箱體(1)側壁上開設有入口(7)，所述箱體(1)內部與入口(7)相對應的位置裝有托盒(8)，所述托盒(8)上放置有芯片盒(9)，所述芯片盒(9)內部設有若干橫條(10)，所述橫條(10)之間設有芯片區(11)，所述芯片區(11)內放置有芯片(12)，所述箱體(1)底部設有第一次品收集箱(13)、第二次品收集箱(46)、成品收集箱(47)和第三次品收集箱(48)，所述開口(2)設在箱體(1)頂部，所述箱體(1)背面固定裝有伺服電機(14)，所述伺服電機(14)輸出端通過轉軸(15)貫通箱體(1)內部，所述延伸至箱體(1)內部的轉軸(15)上固定裝有第一齒輪(16)，所述箱體(1)側壁上固定裝有固定桿(17)，所述固定桿(17)轉動連接有第二齒輪(18)，所述第一齒輪(16)通過傳動帶(19)與第二齒輪(18)相連接，所述箱體(1)里側壁上裝有第一支架板(29)和第二支架板(20)，所述轉軸(15)延伸在箱體(1)外的一端固定裝有第三齒輪(21)，所述箱體(1)內部裝設有清掃裝置；所述箱體(1)外側設有第二轉軸(35)，所述第二轉軸(35)外部固定裝有第四齒輪(36)，所述第三齒輪(21)通過傳動帶(19)帶動第四齒輪(36)，所述第二轉軸(35)貫通箱體(1)內部，并設在固定桿(17)下方，所述與第二轉軸(35)遠離下方的箱體(1)內壁上固定設有第二固定桿(37)，所述第二轉軸(35)和第二固定桿(37)上裝有第二分檢傳輸裝置，該第二分檢傳輸裝置向右下傾斜；所述第二支架板(20)上端面固定設有攔截板(38)、檢測厚度塊(39)和第二檢測厚度塊(40)，所述攔截板(38)可擋住傳動帶(19)兩側，所述檢測厚度塊(39)和第二檢測厚度塊(40)上開設有通道(28)，其通道(28)套住該傳動帶(19)，并預留一個可通過芯片(12)的開口，所述攔截板(38)不與檢測厚度塊(39)第二檢測厚度塊(40)相連接，并在傳動帶(19)兩側形成一個可容芯片從兩側掉出的出口(41)；

所述檢測裝置包括若干檢測彈簧(22)和檢測桿(23)，所述支撐桿(6)向下延伸的一端固定裝有圓板(24)，所述圓板(24)底面中間位置開設有通孔(25)，所述通孔(25)四周均勻分布有四個第二通孔(26)，所述第二通孔(26)內裝設有同等硬度的檢測彈簧(22)，所述通孔(25)內裝設的檢測彈簧(22)比所述第二通孔(26)內裝設的檢測彈簧(22)硬度低，所述檢測彈簧(22)另一端固定裝有檢測桿(23)。

2.根據權利要求1所述的一種芯片快速檢測設備，其特征在于：所述橫條(10)數量若干，其之間產生縫隙，所述芯片區(11)設在每個橫條(10)之間，并遮蓋住所述的縫隙，當芯片(12)放置在芯片區(11)內時，被外力壓斷裂后，可從所述縫隙掉落至下方，所述第一次品收集箱(13)設在托盒(8)下方，可收集上方掉落的不合格芯片。

3.根據權利要求1所述的一種芯片快速檢測設備，其特征在于：所述轉軸(15)和固定桿(17)相對平行，所述第一支架板(29)設在傳動帶(19)的下方，所述第一支架板(29)上端面固定分檢塊(27)，所述分檢塊(27)上設有通道(28)，所述分檢塊(27)向上延伸至箱體(1)頂部，所述傳動帶(19)置于通道(28)，其上方預留一個一次性可通過一個芯片(12)的開口，所述分檢塊(27)設在傳動帶(19)中間位置。

4.根據權利要求3所述的一種芯片快速檢測設備，其特征在于：所述第一齒輪(16)、第二齒輪(18)、傳動帶(19)和第一支架板(29)構成一個分檢傳輸裝置，所述分檢傳輸裝置設兩組以上，所述第一支架板(29)上端面固定設有固定柱(30)，所述固定柱(30)固定裝有U形塊(31)，所述U形塊(31)套住轉軸(15)，其上表面可堵住多個分檢傳輸裝置之間產生的縫隙。