[發明專利]磁盤裝置以及讀處理方法

有效

• 申請號: 202011634081.2
• 申請日: 2020-12-31
• 公開（公告）號: CN113838482B
• 公開（公告）日: 2023-08-08
• 發明（設計）人: 河邊享之;須藤大輔
• 申請（專利權）人: 株式會社東芝;東芝電子元件及存儲裝置株式會社
• 主分類號: G11B5/02
• 分類號: G11B5/02;G11B20/10
• 代理公司: 北京市中咨律師事務所 11247
• 代理人: 林娜;段承恩

實施方式提供一種能夠提高讀性能的磁盤裝置以及讀處理方法。本實施方式的磁盤裝置，具備：盤，具有配置于從目標位置起以比第1閾值大的第1偏移量在半徑方向上錯開的第1半徑位置的第1扇區；頭，對所述盤寫入數據，并從所述盤讀取數據；以及控制器，將所述頭配置在從所述目標位置起以不同于所述第1偏移量的第2偏移量錯開的第2半徑位置對所述第1扇區進行讀取。

關聯申請

本申請享受以日本專利申請2020-107840號(申請日：2020年6月23日)作為在先申請的優先權。本申請通過參照該在先申請而包含在先申請的全部內容。

技術領域

本發明的實施方式涉及磁盤裝置以及讀處理方法。

背景技術

在磁盤裝置中，已提出如下方法，即，記錄向盤對數據進行寫處理時的頭的路徑，基于該寫處理時的頭的路徑，讀取數據由此改善錯誤率(error?rate)。寫處理時的頭的路徑例如能作為非易失性數據而記錄于存儲器等。為了記錄盤的全部軌道所對應的全部的寫處理時的頭的路徑，需要龐大的記錄容量。

發明內容

本發明的實施方式提供一種能夠提高讀性能的磁盤裝置以及讀處理方法。

本實施方式的磁盤裝置，具備：盤，具有配置于從目標位置起以比第1閾值大的第1偏移量在半徑方向上錯開的第1半徑位置的第1扇區；頭，對所述盤寫入數據，從所述盤讀取數據；以及控制器，在從所述目標位置起以不同于所述第1偏移量的第2偏移量錯開的第2半徑位置配置所述頭而對所述第1扇區進行讀取。

附圖說明

圖1是表示第1實施方式的磁盤裝置的構成的框圖。

圖2是表示頭相對于第1實施方式的盤的配置的一例的示意圖。

圖3是表示帶區域的一例的示意圖。

圖4是表示DDOL的一例的示意圖。

圖5是表示ATC的一例的示意圖。

圖6是表示調整讀取偏移量的計算方法的一例的示意圖。

圖7是表示校正讀取偏移量的計算方法的一例的示意圖。

圖8是表示記錄校正讀取偏移量的表的一例的圖。

圖9是表示第1實施方式的寫處理時的頭的定位控制系統的一例的框圖。

圖10是表示第1實施方式的校正讀取偏移量的記錄功能系統的一例的框圖。

圖11是表示第1實施方式的讀處理時的頭的定位控制系統的一例的框圖。

圖12是表示第1實施方式的寫處理方法的一例的流程圖。

圖13是表示圖12的調整讀取偏移量的計算方法的一例的流程圖。

圖14是表示第1實施方式的讀處理方法的一例的流程圖。

圖15是表示校正讀取偏移量的計算方法的一例的示意圖。

圖16是表示變形例1的讀取控制系統的一例的框圖。

圖17是表示變形例1的讀處理方法的一例的流程圖。

圖18是表示校正讀取偏移量的計算方法的一例的示意圖。

圖19是表示校正讀取偏移量的設定方法的一例的示意圖。

圖20是表示平均校正讀取偏移量的計算方法的一例的示意圖。

具體實施方式

以下，針對實施方式參照附圖進行說明。此外，附圖是一例，并不限定發明的范圍。

(第1實施方式)