[發明專利]用于校準激光掃平儀的方法

在審

• 申請號: 202011624564.4
• 申請日: 2020-12-31
• 公開（公告）號: CN112611396A
• 公開（公告）日: 2021-04-06
• 發明（設計）人: 王偉臣;石昕;邢星
• 申請（專利權）人: 上海諾司緯光電儀器有限公司;美國西北儀器公司
• 主分類號: G01C25/00
• 分類號: G01C25/00;G01C15/00
• 代理公司: 北京永新同創知識產權代理有限公司 11376
• 代理人: 楊勝軍

1.一種用于校準激光掃平儀的方法，其特征在于，所述方法包括：

激光掃平儀向接收單元發射激光，獲取并記錄所述接收單元上所接收的第一激光位置；

將所述激光掃平儀沿豎直軸線水平旋轉180度，獲取所述激光掃平儀中的水平度傳感器的第一檢測值；

調節所述激光掃平儀發射的激光的坡度，使得所述接收單元上的激光位于所述第一激光位置，獲取所述激光掃平儀中的水平度傳感器的第二檢測值；以及

基于所述第一檢測值和所述第二檢測值確定是否需要對所述激光掃平儀進行校準。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述接收單元包括激光探測器、靶板、電子靶、標尺、用戶界面、墻面中的任意一種。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

所述激光掃平儀向接收單元發射激光前，先對所述激光掃平儀進行安平；以及

在獲取所述激光掃平儀中的水平度傳感器的第一檢測值、第二檢測值前，先分別對所述激光掃平儀進行安平。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述第一檢測值和所述第二檢測值確定是否需要對所述激光掃平儀進行校準進一步包括：

基于所述第一檢測值和所述第二檢測值確定第一實際誤差值；

將所述實際誤差值和第一誤差門限值進行比較，以確定是否需要對所述激光掃平儀進行校準。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述第一實際誤差值為所述第一檢測值和所述第二檢測值之差的一半。

6.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，在需要對所述激光掃平儀進行校準的情況下，以所述第一實際誤差值對所述激光掃平儀進行校準。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

提供激光掃平儀和接收單元，其中，所述激光掃平儀和所述接收單元相距第一距離。

8.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，將所述激光掃平儀沿豎直軸線水平旋轉進一步包括：

借助于支撐所述激光掃平儀的底座來旋轉所述激光掃平儀。

9.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

將所述激光掃平儀沿豎直軸線水平旋轉90度，獲取并記錄所述接收單元上所接收的第二激光位置；

將所述激光掃平儀沿豎直軸線水平再旋轉180度，獲取所述激光掃平儀中的水平度傳感器的第三檢測值；

調節所述激光掃平儀發射的激光的坡度，使得所述接收單元上的激光位于所述第二激光位置，獲取所述激光掃平儀中的水平度傳感器的第四檢測值；以及

基于所述第三檢測值和所述第四檢測值確定是否需要對所述激光掃平儀進行校準。

10.根據權利要求9所述的方法，其特征在于，基于所述第三檢測值和所述第四檢測值確定是否需要對所述激光掃平儀進行校準進一步包括：

基于所述第三檢測值和所述第四檢測值確定第二實際誤差值；

將所述第二實際誤差值和第二誤差門限值進行比較，以確定是否需要對所述激光掃平儀進行校準。

11.根據權利要求10所述的方法，其特征在于，所述第二誤差門限值和所述第一誤差門限值相等。

12.根據權利要求10所述的方法，其特征在于，在需要對所述激光掃平儀進行校準的情況下，以所述第二實際誤差值對所述激光掃平儀進行校準。

13.根據權利要求10所述的方法，其特征在于，所述第二實際誤差值為所述第三檢測值和所述第四檢測值之差的一半。

14.根據權利要求10所述的方法，其特征在于，將所述激光掃平儀沿豎直軸線水平旋轉進一步包括：

借助于支撐所述激光掃平儀的底座來旋轉所述激光掃平儀。