[發明專利]一種應用于5G網絡的高速光通信芯片的檢測方法在審
| 申請號: | 202011623628.9 | 申請日: | 2020-12-31 |
| 公開(公告)號: | CN112834903A | 公開(公告)日: | 2021-05-25 |
| 發明(設計)人: | 趙浩;張靜;陳博;黎載紅 | 申請(專利權)人: | 上海波匯科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28;G01N33/00;G01N21/84;G01B21/00;H04B10/079 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 201613 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 應用于 網絡 高速 光通信 芯片 檢測 方法 | ||
1.一種應用于5G網絡的高速光通信芯片的檢測方法,其特征在于,光通信芯片的檢測方法包括以下步驟:
結構性檢測,所述光通信芯片對晶格檢測,所述晶格檢測完成對內部裂紋進行檢測,所述裂紋檢測完成后對分層之間的連接與缺陷檢測,所述分層檢測完成后對芯片之間貼合進行檢測;
焊接檢測,所述光通信芯片基座焊接檢測,所述焊接檢測為虛焊檢測,所述焊接檢測為空焊檢測;
芯片檢測,所述芯片檢測為芯片晶體檢測,所述晶體檢測采用針檢機,所述晶體檢測完成后對芯片內部的功能區進行檢測,所述功能區檢測完成后對連接的穩定性進行檢測;
封裝檢測,所述封裝檢測具體為器材材料檢測,所述器材檢測完成后對尺寸進行檢測,所述尺寸檢測完成后對器材結構進行檢測。
2.根據權利要求1所述的一種應用于5G網絡的高速光通信芯片的檢測方法,其特征在于:所述檢測出錯誤后對芯片線路進行修改,所述線路修改,需要使用切線,所述切線完成后對線路重新進行連接,所述連接完成后對設計方案重新設計。
3.根據權利要求1所述的一種應用于5G網絡的高速光通信芯片的檢測方法,其特征在于:所述封裝完成后對芯片進行檢測,所述檢測信息有對芯片進行識別。
4.根據權利要求1所述的一種應用于5G網絡的高速光通信芯片的檢測方法,其特征在于:所述完成生產后再對通訊信息進行檢測,所述通訊檢測合格為質量合格。
5.根據權利要求1所述的一種應用于5G網絡的高速光通信芯片的檢測方法,其特征在于:所述通訊檢測先對信號強度進行檢測,所述信號強度檢測完成后對信號的穩定性進行檢測,所述信號穩定性檢測完成對信號范圍進行檢測。
6.根據權利要求5所述的一種應用于5G網絡的高速光通信芯片的檢測方法,其特征在于:所述信號檢測完成后對穿透力進行檢測,所述穿透力檢測采用十厘米厚混凝土墻包裹的方式。
7.根據權利要求5所述的一種應用于5G網絡的高速光通信芯片的檢測方法,其特征在于:所述信號檢測通過采用實際使用的方式進行檢測,且通過將芯片安裝在設備當中進行檢測。
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