[發明專利]一種應用于5G網絡的高速光通信芯片的檢測方法在審
| 申請號: | 202011623628.9 | 申請日: | 2020-12-31 |
| 公開(公告)號: | CN112834903A | 公開(公告)日: | 2021-05-25 |
| 發明(設計)人: | 趙浩;張靜;陳博;黎載紅 | 申請(專利權)人: | 上海波匯科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28;G01N33/00;G01N21/84;G01B21/00;H04B10/079 |
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| 地址: | 201613 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 應用于 網絡 高速 光通信 芯片 檢測 方法 | ||
本發明公開了一種應用于5G網絡的高速光通信芯片的檢測方法,其特征在于,光通信芯片的檢測方法包括以下步驟:結構性檢測,所述光通信芯片對晶格檢測,所述晶格檢測完成對內部裂紋進行檢測;芯片檢測,所述芯片檢測為芯片晶體檢測,所述晶體檢測采用針檢機;封裝檢測,所述封裝檢測具體為器材材料檢測,所述器材檢測完成后對尺寸進行檢測,所述尺寸檢測完成后對器材結構進行檢測,本檢測系統通過增強檢測范圍以及檢測的功能項,使其本裝置可很好的對光通信芯片進行檢測,減少光通信芯片的故障率,通過檢測出的故障對生產工藝進行改進,增加生產效率,同時本檢測方式可對通信芯片的信號強度等問題進行檢測。
技術領域
本發明涉及檢測方法,特別涉及一種應用于5G網絡的高速光通信芯片的檢測方法,屬于通訊技術領域。
背景技術
5G又稱;第五代移動通信技術是最新一代蜂窩移動通信技術,也是繼4G(LTE-A、WiMax)、3G(UMTS、LTE)和2G(GSM)系統之后的延伸。5G的性能目標是高數據速率、減少延遲、節省能源、降低成本、提高系統容量和大規模設備連接,Release-15中的5G規范的第一階段是為了適應早期的商業部署,Release-16的第二階段將于2020年4月完成,作為IMT-2020技術的候選提交給國際電信聯盟(ITU),ITU IMT-2020規范要求速度高達20Gbit/s,可以實現寬信道帶寬和大容量MIMO。
但是在使用5G時會使用配套使用的光通信芯片,用于支持5G的信號傳輸,解碼與編碼等操作,但是由于目前的5G網絡剛剛研發,從而導致配套使用的光通信芯片數量比較少,技術還不成熟,從而導致目前的5G光通信的芯片容易發生故障,而現在制造出光通信芯片時需要對芯片進行全方位的檢測,從而保證芯片功能的正常使用,而現在沒有專門針對5G光通信的芯片的檢測方法,導致部分5G光通信的芯片在使用時依然具有一定的問題。
因此,針對上述問題,本發明提供一種應用于5G網絡的高速光通信芯片的檢測方法。
發明內容
本發明的目的在提供一種應用于5G網絡的高速光通信芯片的檢測方法,解決背景技術提出的問題。
為實現上述目的,本發明提供如下技術方案:一種應用于5G網絡的高速光通信芯片的檢測方法,其特征在于,光通信芯片的檢測方法包括以下步驟:
結構性檢測,所述光通信芯片對晶格檢測,所述晶格檢測完成對內部裂紋進行檢測,所述裂紋檢測完成后對分層之間的連接與缺陷檢測,所述分層檢測完成后對芯片之間貼合進行檢測
焊接檢測,所述光通信芯片基座焊接檢測,所述焊接檢測為虛焊檢測,所述焊接檢測為空焊檢測;
芯片檢測,所述芯片檢測為芯片晶體檢測,所述晶體檢測采用針檢機,所述晶體檢測完成后對芯片內部的功能區進行檢測,所述功能區檢測完成后對連接的穩定性進行檢測;
封裝檢測,所述封裝檢測具體為器材材料檢測,所述器材檢測完成后對尺寸進行檢測,所述尺寸檢測完成后對器材結構進行檢測。
優選的,所述檢測出錯誤后對芯片線路進行修改,所述線路修改,需要使用切線,所述切線完成后對線路重新進行連接,所述連接完成后對設計方案重新設計。
優選的,所述封裝完成后對芯片進行檢測,所述檢測信息有對芯片進行識別。
優選的,所述完成生產后再對通訊信息進行檢測,所述通訊檢測合格為質量合格。
優選的,所述通訊檢測先對信號強度進行檢測,所述信號強度檢測完成后對信號的穩定性進行檢測,所述信號穩定性檢測完成對信號范圍進行檢測。
優選的,所述信號檢測完成后對穿透力進行檢測,所述穿透力檢測采用十厘米厚混凝土墻包裹的方式;
獲取信息:所述信號檢測通過采用實際使用的方式進行檢測,且通過將芯片安裝在設備當中進行檢測。
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