[發明專利]一種用于CMOS芯片檢測的多方位視覺檢測機構

在審

• 申請號: 202011619297.1
• 申請日: 2020-12-30
• 公開（公告）號: CN112730461A
• 公開（公告）日: 2021-04-30
• 發明（設計）人: 張華;蒲繼雄;丁攀峰;馮文燦
• 申請（專利權）人: 東莞廣達智能科技有限公司
• 主分類號: G01N21/956
• 分類號: G01N21/956;G01N21/01;G01B11/27;G01B11/06;G01B5/24;G01B5/06
• 代理公司: 北京卓恒知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 11394
• 代理人: 李迪

本發明涉及檢測設備技術領域，尤其是指一種多方位視覺檢測設備，包括高度檢測儀、偏心檢測儀、機臺，所述高度檢測儀安裝于所述機臺上，所述偏心檢測儀安裝于所述高度檢測儀下方，所述高度檢測儀能夠檢測工件的高度，所述偏心檢測儀能夠檢測工件是否偏心；所述機臺設置有與所述高度檢測儀配合使用的檢測臺，所述檢測臺上端設置有可轉動的夾具，所述高度檢測儀安裝于所述檢測臺旁；所述檢測臺設置有與所述高度檢測儀配合使用的反射鏡，所述機臺設置有承載板，所述承載板下方設置有環形光源，所述環形光源上端設置有折射器，通過折射器和反射鏡的存在使本發明，在對工件進行照射時，能夠減少曝光幾率，使高度檢測儀能夠正常對焦進行檢測。

技術領域

本發明涉及檢測設備技術領域，尤其是指一種多方位視覺檢測設備。

背景技術

目前市面上大部分視覺檢測設備均設計為配合機械手抓取來完成檢測的，即機械手抓取放入，設備定位檢測完成后，機械手再次抓取送出，該種設計繁雜且檢測效率低下使用成本高，市場亟待一種可高兼容性配合普通流水線進行產品檢測的檢測設備；而目前的檢測設備存在著曝光的問題，亮度過高導致檢測設備對物品的高度檢測的不準確，為此做出改進。

發明內容

發明為克服上述情況不足，旨在提供一種能解決上述問題的技術方案。

一種用于CMOS芯片檢測的多方位視覺檢測機構，包括高度檢測儀、偏心檢測儀、機臺、控制器，所述高度檢測儀安裝于所述機臺上，所述偏心檢測儀安裝于所述高度檢測儀下方，所述高度檢測儀用于檢測工件的高度，所述偏心檢測儀用于檢測工件是否偏心；所述機臺設置有與所述高度檢測儀配合使用的檢測臺，所述檢測臺上端設置有可轉動的夾具，所述高度檢測儀安裝于所述檢測臺旁；所述高度檢測儀包括第一攝像頭、第一固定器、第一信號發送器，所述第一攝像頭安裝于所述第一固定器下端，所述第一信號發送器與所述第一攝像頭配合使用；所述偏心檢測儀包括第二攝像頭，第二固定器、第二信號發送器，所述第二攝像頭安裝于所述第二固定器上端，所述第二信號發送器與所述第二攝像頭配合使用；所述檢測臺設置有與所述高度檢測儀配合使用的反射鏡，所述機臺設置有承載板，所述承載板下方設置有環形光源，所述環形光源上端設置有折射器；所述第一信號發送器、第二信號發送器、環形光源均與所述控制器電性連接。

作為優選，所述高度檢測儀與所述承載板螺紋連接。

作為優選，所述檢測臺設置有第一電機，所述第一電機下端設置有第一齒輪，所述夾具設置有與所述第一齒輪配合使用的第二齒輪，所述第一電機與所述夾具嚙合連接，所述第一電機與所述控制器電性連接。

作為優選，所述檢測臺后端設置有驅動裝置，所述驅動裝置驅動檢測臺移動，所述驅動裝置與所述控制器電性連接。

作為優選，所述折射器與所述環形光源螺紋連接。

作為優選，所述反射鏡與所述檢測臺螺紋連接。

作為優選，所述機臺下端設置有導軌，所述導軌設置有第二電機，所述導軌設置有與所述第二電機配合使用的滑臺，所述滑臺上端設置有驅動電機，所述驅動電機設置有與所述偏心檢測儀配合使用的支架，所述第二電機、驅動電機均與所述控制器電性連接。

作為優選，所述承載板下端設置有與所述高度測試儀配合使用的機械手，所述機械手與所述控制器電性連接。

作為優選，所述承載板上端設置有刻度盤。

作為優選，所述承載板設置有刻度尺，所述刻度尺用于檢測高度。

本發明的附加方面和優點將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過本發明的實踐了解到。

附圖說明