[發(fā)明專利]一種用于CMOS芯片檢測(cè)的多方位視覺(jué)檢測(cè)機(jī)構(gòu)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011619297.1
• 申請(qǐng)日: 2020-12-30
• 公開（公告）號(hào): CN112730461A
• 公開（公告）日: 2021-04-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張華;蒲繼雄;丁攀峰;馮文燦
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 東莞廣達(dá)智能科技有限公司
• 主分類號(hào): G01N21/956
• 分類號(hào): G01N21/956;G01N21/01;G01B11/27;G01B11/06;G01B5/24;G01B5/06
• 代理公司: 北京卓恒知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11394
• 代理人: 李迪

1.一種用于CMOS芯片檢測(cè)的多方位視覺(jué)檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，包括高度檢測(cè)儀(1)、偏心檢測(cè)儀(2)、機(jī)臺(tái)(3)、控制器，所述高度檢測(cè)儀(1)安裝于所述機(jī)臺(tái)(3)上，所述偏心檢測(cè)儀(2)安裝于所述高度檢測(cè)儀(1)下方，所述高度檢測(cè)儀(1)用于檢測(cè)工件的高度，所述偏心檢測(cè)儀(2)用于檢測(cè)工件是否偏心；

所述機(jī)臺(tái)(3)設(shè)置有與所述高度檢測(cè)儀(1)配合使用的檢測(cè)臺(tái)(4)，所述檢測(cè)臺(tái)(4)上端設(shè)置有可轉(zhuǎn)動(dòng)的夾具(5)，所述高度檢測(cè)儀(1)安裝于所述檢測(cè)臺(tái)(4)旁；

所述高度檢測(cè)儀(1)包括第一攝像頭、第一固定器、第一信號(hào)發(fā)送器，所述第一攝像頭安裝于所述第一固定器下端，所述第一信號(hào)發(fā)送器與所述第一攝像頭配合使用；

所述偏心檢測(cè)儀(2)包括第二攝像頭，第二固定器、第二信號(hào)發(fā)送器，所述第二攝像頭安裝于所述第二固定器上端，所述第二信號(hào)發(fā)送器與所述第二攝像頭配合使用；

所述檢測(cè)臺(tái)(4)設(shè)置有與所述高度檢測(cè)儀(1)配合使用的反射鏡(6)，所述機(jī)臺(tái)(3)設(shè)置有承載板(7)，所述承載板(7)下方設(shè)置有環(huán)形光源(8)，所述環(huán)形光源(8)上端設(shè)置有折射器(9)；

所述第一信號(hào)發(fā)送器、第二信號(hào)發(fā)送器、環(huán)形光源(8)均與所述控制器電性連接。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于CMOS芯片檢測(cè)的多方位視覺(jué)檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，所述高度檢測(cè)儀(1)與所述承載板(7)螺紋連接。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于CMOS芯片檢測(cè)的多方位視覺(jué)檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，所述檢測(cè)臺(tái)(4)設(shè)置有第一電機(jī)(10)，所述第一電機(jī)(10)下端設(shè)置有第一齒輪，所述夾具(5)設(shè)置有與所述第一齒輪配合使用的第二齒輪，所述第一電機(jī)(10)與所述夾具(5)嚙合連接，所述第一電機(jī)(10)與所述控制器電性連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于CMOS芯片檢測(cè)的多方位視覺(jué)檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，所述檢測(cè)臺(tái)(4)后端設(shè)置有驅(qū)動(dòng)裝置(11)，所述驅(qū)動(dòng)裝置(11)驅(qū)動(dòng)檢測(cè)臺(tái)(4)移動(dòng)，所述驅(qū)動(dòng)裝置(11)與所述控制器電性連接。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于CMOS芯片檢測(cè)的多方位視覺(jué)檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，所述折射器(9)與所述環(huán)形光源(8)螺紋連接。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于CMOS芯片檢測(cè)的多方位視覺(jué)檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，所述反射鏡(6)與所述檢測(cè)臺(tái)(4)螺紋連接。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于CMOS芯片檢測(cè)的多方位視覺(jué)檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，所述機(jī)臺(tái)(1)下端設(shè)置有導(dǎo)軌(12)，所述導(dǎo)軌(12)設(shè)置有第二電機(jī)(13)，所述導(dǎo)軌(12)設(shè)置有與所述第二電機(jī)(13)配合使用的滑臺(tái)(14)，所述滑臺(tái)(14)上端設(shè)置有驅(qū)動(dòng)電機(jī)(15)，所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)(15)設(shè)置有與所述偏心檢測(cè)儀(2)配合使用的支架(16)，所述第二電機(jī)(13)、驅(qū)動(dòng)電機(jī)(15)均與所述控制器電性連接。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于CMOS芯片檢測(cè)的多方位視覺(jué)檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，所述承載板(7)下端設(shè)置有與所述高度測(cè)試儀(1)配合使用的機(jī)械手(17)，所述機(jī)械手(17)與所述控制器電性連接。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于CMOS芯片檢測(cè)的多方位視覺(jué)檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，所述承載板(7)上端設(shè)置有刻度盤(18)。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于CMOS芯片檢測(cè)的多方位視覺(jué)檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，所述承載板(7)設(shè)置有刻度尺(19)，所述刻度尺(19)用于檢測(cè)高度。