[發(fā)明專利]一種筆電外殼缺陷快速檢測算法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011618739.0
• 申請日: 2020-12-31
• 公開（公告）號: CN112700415A
• 公開（公告）日: 2021-04-23
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉子平;韋世強(qiáng)
• 申請（專利權(quán)）人: 重慶宇海精密制造股份有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/13
• 代理公司: 重慶百潤洪知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 50219
• 代理人: 程宇

1.一種筆電外殼缺陷快速檢測算法，其特征在于：包括步驟

S101，利用攝像頭分別在相同的相對位置下獲取分辨率為a*b的待檢驗筆電外殼的待測圖像和無缺陷筆電外殼的標(biāo)準(zhǔn)模板圖像；

S102，將待測圖像和標(biāo)準(zhǔn)模板圖像分別轉(zhuǎn)換為bufferedimage格式，然后再將標(biāo)準(zhǔn)模板圖像轉(zhuǎn)換為長度為a*b的灰度值二維數(shù)組Rm[a][b]；

S103，從標(biāo)準(zhǔn)模板圖像中截取分辨率為c*d的檢測區(qū)的圖像，其中0＜c≤a和0＜d≤b，同樣把檢測區(qū)圖像轉(zhuǎn)換到灰度值二維數(shù)組R[c][d]；

S104，在待測圖像中利用二維映射快速定位法對對應(yīng)檢測區(qū)進(jìn)行粗定位，找到對應(yīng)檢測區(qū)在待測圖像中的粗定位數(shù)組Rt[c+δ][d+η]，其中δ和η為粗定位增益區(qū)，滿足0＜δ＜(a-c)和0＜η＜(b-d)，二維映射快速定位法的過程如下：

先將二維數(shù)組R[c][d]在某一維度上進(jìn)行長度為c或d的映射計算，假設(shè)是在c維度上做長度為d的映射，即對R[c][d]每一行累加得到檢測區(qū)映射一維數(shù)組R'[c]，同理對標(biāo)準(zhǔn)模板圖像Rm[a][b]也做同維度和長度的映射，得到標(biāo)準(zhǔn)模板圖像映射二維數(shù)組Rm'[e][f]，其中0＜e≤(a-c)和0＜f≤(b-d)；

設(shè)定坐標(biāo)(i,j)其中0＜i＜e和0＜j＜f,在Rm'[e][f]的坐標(biāo)(i,j)上截取和R'[c]同屬性的臨時數(shù)組并與R'[c]每個值作差值比對，統(tǒng)計差值小于θ數(shù)量，變化坐標(biāo)(i,j)并做同樣的差值比對和統(tǒng)計，得到差值合格數(shù)最多的臨時數(shù)組坐標(biāo)(i,j)max，再在Rm[a][b]中用坐標(biāo)(i,j)max截取分辨率為(c+δ)*(d+η)粗定位圖；

把分辨率為(c+δ)*(d+η)粗定位圖通過canny算子計算出對應(yīng)的邊緣檢測圖，最后把此緣檢測圖轉(zhuǎn)換為表示在待測圖像中的二維數(shù)組Rt[c+δ][d+η]；

S105，將步驟S103中截取的檢測區(qū)圖像通過canny算子計算出對應(yīng)的邊緣檢測圖，邊緣檢測圖的每個像素只有黑白兩值即0和255，并轉(zhuǎn)換為二維數(shù)組R”[c][d]；

S106，將步驟S104中找到的粗定位數(shù)組Rt[a+δ][b+η]中利用點陣匹配法對檢測區(qū)進(jìn)行精定位，找到檢測區(qū)在粗定位數(shù)組Rt[c+δ][d+η]的精確定位圖Rt'[c][d]，具體步驟包括：

先在標(biāo)準(zhǔn)模板圖像的檢測區(qū)灰度值二維數(shù)組R”[c][d]中以步長ε抽取點(x,y)，抽取到的每個點的坐標(biāo)保存到二維數(shù)組中形成點陣數(shù)組Rp[g][h]，其中g(shù)＝[c/ε]和h＝[d/ε]；

設(shè)定坐標(biāo)(i,j)其中0＜i＜δ和0＜j＜η，然后在Rt[c+δ][d+η]的坐標(biāo)(i,j)上截取和R”[c][d]同屬性的臨時數(shù)組，遍歷點陣數(shù)組Rp[g][h]得到每一個抽取點的坐標(biāo)(x,y)，計算R”[c][d]和臨時數(shù)組在(x,y)的四個鄰域點(x+1,y)、(x,y+1)、(x-1,y)、(x,y-1)上值相同個數(shù)；

如果相同個數(shù)大于等于3視兩數(shù)組在坐標(biāo)(x,y)上的點為相似點，于是每變化一次坐標(biāo)(i,j)可以統(tǒng)計到一次相似點的數(shù)量，得到相似點數(shù)最多的臨時數(shù)組坐標(biāo)(i,j)'max；

在步驟S104中截取的分辨率為(c+δ)*(d+η)粗定位圖中的用坐標(biāo)(i,j)'max截取精確定位圖，把此精確定位圖通過canny算子計算出對應(yīng)的邊緣檢測圖，最后把此邊緣檢測圖轉(zhuǎn)換為二維數(shù)組Rt'[c][d]；

S107，使用數(shù)組R”[c][d]對Rt'[c][d]進(jìn)行和差計算，具體步驟包括：

設(shè)定坐標(biāo)(i,j)”其中0＜i＜c和0＜j＜d；

如果數(shù)組R”[c][d]在(i,j)”的值為0或255而Rt'[c][d]在(i,j)”的值為255，則和差數(shù)組Rt”[c][d]在(i,j)”的值設(shè)置為255；

如果數(shù)組R”[c][d]在(i,j)”的值為0或255而Rt'[c][d]在(i,j)”的值為0，則和差數(shù)組Rt”[c][d]在(i,j)”的值設(shè)置為0；

最終坐標(biāo)(i,j)”在范圍內(nèi)遍歷一次后得到和差數(shù)組Rt”[c][d]，此數(shù)組還原成圖像就是只剩下缺陷的邊緣和差圖；

S108，設(shè)定步長λ，在和差數(shù)組Rt”[c][d]中一步長λ劃分網(wǎng)格，循環(huán)統(tǒng)計出每個網(wǎng)格中值為255的個數(shù)，當(dāng)個數(shù)超過設(shè)定的閾值σ時候即可算作即缺陷，在和差數(shù)組Rt”[c][d]中把此網(wǎng)格范圍進(jìn)行標(biāo)記，最終得到標(biāo)記好的缺陷檢測結(jié)果圖二維數(shù)組。