[發明專利]一種軸光學檢測設備在審
| 申請號: | 202011618386.4 | 申請日: | 2020-12-31 |
| 公開(公告)號: | CN112611753A | 公開(公告)日: | 2021-04-06 |
| 發明(設計)人: | 王英;徐紅欣;鄭巍巍;江元浩;葛紅征 | 申請(專利權)人: | 保定天銀機械有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/84 | 分類號: | G01N21/84;G01N21/01;G01B11/02;G01B11/08 |
| 代理公司: | 石家莊領皓專利代理有限公司 13130 | 代理人: | 張杏珍 |
| 地址: | 072750 *** | 國省代碼: | 河北;13 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 光學 檢測 設備 | ||
1.一種軸光學檢測設備,其特征在于,包括:
測量臺(1),為透明板,其底部設有光源;
支撐座(2),為兩個,沿第一方向滑動設置在所述測量臺(1)上;
工業相機(3),沿第一方向滑動設置在所述測量臺(1)上,位于所述支撐座(2)的上方;
激光測距儀(4),沿第一方向滑動設置在所述測量臺(1)上,位于所述支撐座(2)的一側;
計算機,與所述激光測距儀(4)、所述工業相機(3)均連接。
2.根據權利要求1所述的軸光學檢測設備,其特征在于,還包括第一定位板(5),所述第一定位板(5)設置在所述測量臺上,與所述激光測距儀(4)相對。
3.根據權利要求1所述的軸光學檢測設備,其特征在于,所述測量臺(1)上設有沿第一方向的第一滑軌(6),所述第一滑軌(6)上滑動設有多個滑動座,所述支撐座(2)、所述激光測距儀(4),均設置在所述滑動座上。
4.根據權利要求3所述的軸光學檢測設備,其特征在于,所述第一滑軌(6)為兩條,分別設置在所述測量臺(1)沿第一方向的兩側,所述滑動座包括:
第一滑塊(7),為兩個,兩條所述第一滑軌(6)軌道上均滑動設置有第一滑塊(7);
連接臂(8),所述連接臂(8)連接兩個所述第一滑塊(7);
所述支撐座(2)和所述激光測距儀(4)均設置在連接臂(8)上。
5.根據權利要求1所述的軸光學檢測設備,其特征在于,所述測量臺(1)上設有支架(9),所述支架(9)上設有橫梁(10),所述橫梁(10)上設有沿第一方向的第二滑軌(11)和刻度尺,所述第二滑軌(11)上滑動設有第二滑塊(12),所述工業相機(3)設置在所述第二滑塊(12)上。
6.根據權利要求4所述的軸光學檢測設備,其特征在于,所述第一滑塊(7)上設有鎖定機構,所述鎖定機構包括:
轉動臂(13),為兩個,分別位于所述第一滑軌(6)的兩側,所述轉動臂(13)的中部轉動設置在所示第一滑塊(7)上,所述轉動臂(13)的兩端分別設有用于與所述第一滑軌(6)接觸的摩擦墊(14)和滑動墊(15);
彈簧(16),提供使所述滑動墊(15)靠近所述第一滑軌(6)的彈力;
雙向螺桿(17),轉動設置在所示第一滑塊(7)上;
螺母,包括第一螺母(18)和第二螺母(19),均滑動設置在所示第一滑塊(7)上,所述第一螺母(18)與所述第二螺母(19)分別與所述雙向螺桿(17)的兩端螺紋嚙合;
推板(20),所述第一螺母(18)和所述第二螺母(19)上均設有推板(20),用于推動所述摩擦墊(14)靠近所述第一滑軌(6)。
7.根據權利要求2所述的軸光學檢測設備,其特征在于,還包括第二定位板(21),所述第二定位板(21)滑動設置在所述測量臺(1)上,所述第一定位板(5)和所述第二定位板(21)均轉動設置。
8.根據權利要求7所述的軸光學檢測設備,其特征在于,所述第一定位板(5)和所述第二定位板(21)均通過棘輪結構轉動設置在所示測量臺(1)上。
9.根據權利要求1所述的軸光學檢測設備,其特征在于,所述支撐座(2)上還設有感應傳感器(22),用于檢測是否有軸放在所述支撐座(2)上。
10.根據權利要求1所述的軸光學檢測設備,其特征在于,還包括報警燈(23),所述報警燈(23)與所述計算機連接。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于保定天銀機械有限公司,未經保定天銀機械有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202011618386.4/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種圖像降噪方法和存儲介質
- 下一篇:SNRPN基因甲基化檢測試劑盒





