[發(fā)明專利]一種軸光學檢測設(shè)備

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011618386.4
• 申請日: 2020-12-31
• 公開（公告）號: CN112611753A
• 公開（公告）日: 2021-04-06
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 王英;徐紅欣;鄭巍巍;江元浩;葛紅征
• 申請（專利權(quán)）人: 保定天銀機械有限公司
• 主分類號: G01N21/84
• 分類號: G01N21/84;G01N21/01;G01B11/02;G01B11/08
• 代理公司: 石家莊領(lǐng)皓專利代理有限公司 13130
• 代理人: 張杏珍

本發(fā)明涉及檢測設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，提出了一種軸光學檢測設(shè)備，包括測量臺，為透明板，其底部設(shè)有光源；支撐座，為兩個，沿第一方向滑動設(shè)置在測量臺上；工業(yè)相機，沿第一方向滑動設(shè)置在測量臺上，位于支撐座的上方；激光測距儀，沿第一方向滑動設(shè)置在測量臺上，位于支撐座的一側(cè)；計算機，與激光測距儀、工業(yè)相機均連接。通過上述技術(shù)方案，解決了現(xiàn)有技術(shù)中的人工進行軸類檢測誤差大、效率低的問題。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及檢測設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，具體的，涉及一種軸光學檢測設(shè)備。

背景技術(shù)

軸類零件是機械工業(yè)中極為常見的零件，也是非常重要的零件；其形狀誤差精度直接影響機械的運動性能以及使用壽命。隨著機械工業(yè)的發(fā)展，對軸類零件的要求越來越高，從事軸類生產(chǎn)的生產(chǎn)企業(yè)也越來越多。要想在激烈的競爭中不被淘汰，首要任務就是控制好產(chǎn)品質(zhì)量精度。對零件進行檢測時，傳統(tǒng)的檢測方法是采用單純?nèi)斯ひ曈X檢測或人工視覺與機械量具、光學儀器相結(jié)合的方法進行抽檢。人工檢測往往存在效率低、可靠性差、檢測精度不高、成本高等缺點；另外，采用工業(yè)相機檢測，檢測精度不高，檢測數(shù)據(jù)不夠穩(wěn)定，受外界光影響較大，而且檢測速度慢。所以，現(xiàn)有的檢測方式及設(shè)備已經(jīng)滿足不了現(xiàn)代工業(yè)發(fā)展的需求

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提出了一種軸光學檢測設(shè)備，解決了現(xiàn)有技術(shù)中的人工進行軸類檢測誤差大、效率低的問題。

本發(fā)明的技術(shù)方案如下：

一種軸光學檢測設(shè)備，包括：

測量臺，為透明板，其底部設(shè)有光源；

支撐座，為兩個，沿第一方向滑動設(shè)置在所述測量臺上；

工業(yè)相機，沿第一方向滑動設(shè)置在所述測量臺上，位于所述支撐座的上方；

激光測距儀，沿第一方向滑動設(shè)置在所述測量臺上，位于所述支撐座的一側(cè)；

計算機，與所述激光測距儀、所述工業(yè)相機均連接。

進一步，還包括第一定位板，所述第一定位板設(shè)置在所述測量臺上，與所述激光測距儀相對。

進一步，所述測量臺上設(shè)有沿第一方向的第一滑軌，所述第一滑軌上滑動設(shè)有多個滑動座，所述支撐座、所述激光測距儀，均設(shè)置在所述滑動座上。

進一步，所述第一滑軌為兩條，分別設(shè)置在所述測量臺沿第一方向的兩側(cè)，所述滑動座包括：

第一滑塊，為兩個，兩條所述第一滑軌軌道上均滑動設(shè)置有第一滑塊；

連接臂，所述連接臂連接兩個所述第一滑塊；

所述支撐座和所述激光測距儀均設(shè)置在連接臂上。

進一步，所述測量臺上設(shè)有支架，所述支架上設(shè)有橫梁，所述橫梁上設(shè)有沿第一方向的第二滑軌和刻度尺，所述第二滑軌上滑動設(shè)有第二滑塊，所述工業(yè)相機設(shè)置在所述第二滑塊上。

進一步，所述第一滑塊上設(shè)有鎖定機構(gòu)，所述鎖定機構(gòu)包括：

轉(zhuǎn)動臂，為兩個，分別位于所述第一滑軌的兩側(cè)，所述轉(zhuǎn)動臂的中部轉(zhuǎn)動設(shè)置在所示第一滑塊上，所述轉(zhuǎn)動臂的兩端分別設(shè)有用于與所述第一滑軌接觸的摩擦墊和滑動墊；

彈簧，提供使所述滑動墊靠近所述第一滑軌的彈力；

雙向螺桿，轉(zhuǎn)動設(shè)置在所示第一滑塊上；

螺母，包括第一螺母和第二螺母，均滑動設(shè)置在所示第一滑塊上，所述第一螺母與所述第二螺母分別與所述雙向螺桿的兩端螺紋嚙合；

推板，所述第一螺母和所述第二螺母上均設(shè)有推板，用于推動所述摩擦墊靠近所述第一滑軌。

進一步，還包括第二定位板，所述第二定位板滑動設(shè)置在所述測量臺上，所述第一定位板和所述第二定位板均轉(zhuǎn)動設(shè)置。