[發明專利]解答題的答案分析方法、電子設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202011613150.1
• 申請日: 2020-12-30
• 公開（公告）號: CN112732868B
• 公開（公告）日: 2023-04-07
• 發明（設計）人: 詹文超;沙晶;付瑞吉;王士進;魏思;胡國平
• 申請（專利權）人: 科大訊飛股份有限公司
• 主分類號: G06F16/33
• 分類號: G06F16/33
• 代理公司: 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280
• 代理人: 李申

本申請公開了一種解答題的答案分析方法、電子設備及存儲介質。該方法包括：獲取解答題的實際答案和標準答案；利用結論分析模型基于標準答案判斷實際答案是否錯誤；若錯誤，則分別利用錯因分析模型獲取實際答案和標準答案的向量表示；基于實際答案和標準答案的向量表示，分析實際答案的錯因。通過上述方式，能夠分析解答題的實際答案的錯因。

技術領域

本申請涉及自然語言處理領域，特別是涉及一種解答題的答案分析方法、電子設備及存儲介質。

背景技術

學生的學習過程通常可以概括為：同步學習某知識點，課后練習對應習題，同步測試，根據練習和測評結果再確認學生是否掌握該知識點或方法。

目前得到練習和測評結果大多數依靠學生或者老師批改獲得，無法定位每個學生錯題的原因。從學生批改的角度來說，學生自己批改無法客觀準確，并且很難定位自己的錯誤原因。從老師的角度來說，老師批改需要面對一個班級甚至多個班級的學生，工作量巨大，要分析出每個學生錯題的具體原因，需要投入非常大的精力，目前絕大多數老師沒有時間做這件事。

發明內容

本申請提供一種解答題的答案分析方法、電子設備及存儲介質，能夠分析解答題的答案的錯因。

為解決上述技術問題，本申請采用的一個技術方案是：提供一種解答題的答案分析方法。該方法包括：獲取解答題的實際答案和標準答案；利用結論分析模型基于標準答案判斷實際答案是否錯誤；若錯誤，則分別利用錯因分析模型獲取實際答案和標準答案的向量表示；基于實際答案和標準答案的向量表示，分析實際答案的錯因。

為解決上述技術問題，本申請采用的另一個技術方案是：提供一種電子設備，該電子設備包括處理器、與處理器連接的存儲器，其中，存儲器存儲有程序指令；處理器用于執行存儲器存儲的程序指令以實現上述方法。

為解決上述技術問題，本申請采用的又一個技術方案是：提供一種存儲介質，存儲有程序指令，該程序指令被執行時能夠實現上述方法。

通過上述方式，本申請能夠判斷實際答案是否錯誤，并且在判斷出實際答案錯誤的基礎上，進一步利用錯因分析模型獲取實際答案和標準答案的向量表示，并基于實際答案和標準答案的向量表示得到實際答案的錯因。

附圖說明

圖1是本申請解答題的答案分析方法實施例一的流程示意圖；

圖2是本申請解答題的答案分析方法實施例二的流程示意圖；

圖3是圖2中S24的具體流程示意圖；

圖4是本申請解答題的答案分析方法實施例三的流程示意圖；

圖5是本申請解答題的答案分析方法實施例四的流程示意圖；

圖6是圖6中S42的具體流程示意圖；

圖7是本申請錯因分析模型的結構示意圖；

圖8是本申請電子設備一實施例的結構示意圖；

圖9是本申請存儲介質一實施例的結構示意圖。

具體實施方式

下面將結合本申請實施例中的附圖，對本申請實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅是本申請的一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本申請中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本申請保護的范圍。

本申請中的術語“第一”、“第二”、“第三”僅用于描述目的，而不能理解為指示或暗示相對重要性或者隱含指明所指示的技術特征的數量。由此，限定有“第一”、“第二”、“第三”的特征可以明示或者隱含地包括至少一個該特征。本申請的描述中，“多個”的含義是至少兩個，例如兩個，三個等，除非另有明確具體的限定。