[發明專利]一種電場測試系統在審
| 申請號： | 202011610106.5 | 申請日： | 2020-12-29 |
| 公開（公告）號： | CN112731000A | 公開（公告）日： | 2021-04-30 |
| 發明（設計）人： | 雷海東;涂娟 | 申請（專利權）人： | 江漢大學 |
| 主分類號： | G01R29/12 | 分類號： | G01R29/12;H03L7/099;H03L7/18 |
| 代理公司： | 北京眾達德權知識產權代理有限公司 11570 | 代理人： | 張曉冬 |
| 地址： | 430056 湖北省武*** | 國省代碼： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 電場 測試 系統 | ||
1.一種電場測試系統，其特征在于，所述電場測試系統包括VCXO模塊、探測信號生成模塊、物理系統、D/A控制模塊、處理器、光開關模塊、邏輯門陣列、A/D采樣模塊、微商計數模塊、增益控制模塊、感應時間模塊以及采樣信號顯示模塊，其中：
所述處理器分別與所述VCXO模塊、探測信號生成模塊、D/A控制模塊、光開關模塊、邏輯門陣列、A/D采樣模塊、微商計數模塊以及感應時間模塊連通；
所述VCXO模塊還分別與所述探測信號生成模塊及所述D/A控制模塊連通，所述物理系統分別與所述光開關模塊、所述探測信號生成模塊及所述A/D采樣模塊連通，所述增益控制模塊與所述微商計數模塊連通，所述采樣信號顯示模塊與所述感應時間模塊連通。
2.根據權利要求1所述的電場測試系統，其特征在于，所述物理系統包括腔泡系統以及光源模塊，其中，所述腔泡系統與所述探測信號生成模塊連通，所述光源模塊與所述光開關模塊連通。
3.根據權利要求2所述的電場測試系統，其特征在于，所述邏輯門陣列由所述處理器發生，所述邏輯門陣列包括N個非門，所述N為奇數。
4.根據權利要求3所述的電場測試系統，其特征在于，所述邏輯門陣列的輸入端接收來自所述處理器接收的A/D采樣模塊的信號，所述邏輯門陣列的輸出端經過所述處理器反饋到所述光開關。
5.根據權利要求4所述的電場測試系統，其特征在于，所述探測信號生成模塊包括AD9852芯片。
6.根據權利要求5所述的電場測試系統，其特征在于，所述AD9852芯片包括兩個頻率控制寄存器。
7.根據權利要求6所述的電場測試系統，其特征在于，所述處理器的外時鐘端以及所述AD9852芯片的外時鐘端均接入所述VCXO模塊輸出的時鐘信號。
8.根據權利要求7所述的電場測試系統，其特征在于，所述探測信號生成模塊包括還包括移相器、相敏放大器、選頻放大器以及積分器。
9.根據權利要求8所述的電場測試系統，其特征在于，所述處理器通過控制所述感應時間模塊改變同步信號的相位，從而對感應時間進行測量。
10.根據權利要求1至9中任一項所述的電場測試系統，其特征在于，所述增益控制的增益設為N，所述N的取值范圍為10-30。
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