[發明專利]一種電場測試系統

在審

• 申請號: 202011610106.5
• 申請日: 2020-12-29
• 公開（公告）號: CN112731000A
• 公開（公告）日: 2021-04-30
• 發明（設計）人: 雷海東;涂娟
• 申請（專利權）人: 江漢大學
• 主分類號: G01R29/12
• 分類號: G01R29/12;H03L7/099;H03L7/18
• 代理公司: 北京眾達德權知識產權代理有限公司 11570
• 代理人: 張曉冬

本發明實施例中公開了一種電場測試系統，該電場測試系統中的處理器分別與VCXO模塊、探測信號生成模塊、D/A控制模塊、光開關模塊、邏輯門陣列、A/D采樣模塊、微商計數模塊以及感應時間模塊連通；VCXO模塊還分別與探測信號生成模塊及D/A控制模塊連通，物理系統分別與光開關模塊、探測信號生成模塊及A/D采樣模塊連通，增益控制模塊與微商計數模塊連通，采樣信號顯示模塊與感應時間模塊連通。本發明實施例提供的電場測試系統，可以通過對系統電場的測試，確定感應時間，并根據該感應時間調整同步信號，從而調整系統的相位差，提高整機性能。

技術領域

本發明涉及原子鐘技術領域，具體涉及一種電場測試系統。

背景技術

被動型銣原子鐘的原理方框圖如圖1所示，整個框圖由物理系統及電子線路兩大部分組成，其中物理系統包括光譜燈、集成濾光共振泡、微波腔、光電池、C場、恒溫器以及磁屏等組成；電子線路由基本的隔離放大器、DDS綜合器、倍頻混頻器以及伺服電路組成。物理系統作為原子標準頻率輸出參考，電子線路與物理系統構成一個頻率鎖定環路，用以將壓控晶體振蕩器VCX0的輸出頻率鎖定在物理系統的原子標準參考頻率上。

根據傳統原子鐘技術，鍵控調頻用的方波信號是由處理器產生的，那么伺服系統采集的同步信號也應由它產生，并且幾路信號要保持著相位，但額外相移會出現同步信號與鑒頻信號的相位變化，傳統的技術無法克服相位變化的出現，對整機的性能指標帶來很大的影響。

發明內容

本發明實施例中提供一種電場測試系統，能夠調整系統的相位差，提高整機性能。

本發明提供一種電場測試系統，所述電場測試系統包括VCXO模塊、探測信號生成模塊、物理系統、D/A控制模塊、處理器、光開關模塊、邏輯門陣列、A/D采樣模塊、微商計數模塊、增益控制模塊、感應時間模塊以及采樣信號顯示模塊，其中：

所述處理器分別與所述VCXO模塊、探測信號生成模塊、D/A控制模塊、光開關模塊、邏輯門陣列、A/D采樣模塊、微商計數模塊以及感應時間模塊連通；

所述VCXO模塊還分別與所述探測信號生成模塊及所述D/A控制模塊連通，所述物理系統分別與所述光開關模塊、所述探測信號生成模塊及所述A/D采樣模塊連通，所述增益控制模塊與所述微商計數模塊連通，所述采樣信號顯示模塊與所述感應時間模塊連通。

在一些實施例中，所述物理系統包括腔泡系統以及光源模塊，其中，所述腔泡系統與所述探測信號生成模塊連通，所述光源模塊與所述光開關模塊連通。

在一些實施例中，所述邏輯門陣列由所述處理器發生，所述邏輯門陣列包括N個非門，所述N為奇數。

在一些實施例中，所述邏輯門陣列的輸入端接收來自所述處理器接收的A/D采樣模塊的信號，所述邏輯門陣列的輸出端經過所述處理器反饋到所述光開關。

在一些實施例中，所述探測信號生成模塊包括AD9852芯片。

在一些實施例中，所述AD9852芯片包括兩個頻率控制寄存器。

在一些實施例中，所述處理器的外時鐘端以及所述AD9852芯片的外時鐘端均接入所述VCXO模塊輸出的時鐘信號。

在一些實施例中，所述探測信號生成模塊包括還包括移相器、相敏放大器、選頻放大器以及積分器。

在一些實施例中，所述處理器通過控制所述感應時間模塊改變同步信號的相位，從而對感應時間進行測量。

在一些實施例中，所述增益控制的增益設為N，所述N的取值范圍為10-30。

相對于現有技術，本發明的有益效果是：本發明實施例提供的電場測試系統，通過對系統電場的測試，確定感應時間，并根據該感應時間調整同步信號，從而調整系統的相位差，提高整機性能。

附圖說明